本产品是可高精度加工的FIB(聚焦离子束)系统和高分辨率SEM(扫描电子显微镜)的组合系统,可满足上述要求。 主要特性 FIB镜筒支持高达100nA的大电流镓离子束加工。大电流加工对制备用于大面积成像和分析的截面样品特别有效。此外,FIB镜筒的工作距离更短。加上新开发的电源,低加速电压下的加工性能得到极大的改善。 SEM镜筒...
JEOL Ltd. (TOKYO:6951)(总裁兼首席执行官:Izumi Oi)宣布于2023年2月1日推出FIB-SEM系统“JIB-PS500i”。 FIB-SEM 系统“PS500i”(照片:美国商业资讯) 随着先进材料结构愈发精细化和工艺愈发复杂化,形态观察、元素分析等评价技术对分辨率和精度提出了更高的要求。在半导体行业、电池和材料领域,在为透射电子显微...
本产品是可高精度加工的FIB(聚焦离子束)系统和高分辨率SEM(扫描电子显微镜)的组合系统,可满足上述要求。 主要特性 FIB镜筒支持高达100nA的大电流镓离子束加工。大电流加工对制备用于大面积成像和分析的截面样品特别有效。此外,FIB镜筒的工作距离更短。加上新开发的电源,低加速电压下的加工性能得到极大的改善。 SEM镜筒...
(美国商业资讯)--JEOL Ltd. (TOKYO:6951)(总裁兼首席执行官:Izumi Oi)宣布于2023年2月1日推出FIB-SEM系统“JIB-PS500i”。 随着先进材料结构愈发精细化和工艺愈发复杂化,形态观察、元素分析等评价技术对分辨率和精度提出了更高的要求。在半导体行业、电池和
JEOL Ltd. (TOKYO:6951)(总裁兼首席执行官:Izumi Oi)宣布于2023年2月1日推出FIB-SEM系统“JIB-PS500i”。 FIB-SEM 系统“PS500i”(照片:美国商业资讯) 随着先进材料结构愈发精细化和工艺愈发复杂化,形态观察、元素分析等评价技术对分辨率和精度提出了更高的要求。在半导体行业、电池和材料领域,在为透射电子显微...
(Peabody, MA, February 1, 2023) -- JEOL has developed a new Focused Ion Beam (FIB) solution for preparation of specimens prior to observation in the Transmission Electron Microscope (TEM). The new JIB-PS500i is a multipurpose FIB-SEM that delivers the synergy of fast sample preparation, ...
【JEOL推出高精度和高分辨率的FIB-SEM系统“JIB-PS500i”】JEOL Ltd. (TOKYO:6951)(总裁兼首席执行官:Izumi Oi)宣布于2023年2月1日推出FIB-SEM系统“JIB-PS500i”。http://t.cn/A69dmthc
TEM/SEM/FIB/EBL 01展位信息 SEMICON China已成为中国首要的半导体行业盛事之一。2024年SEMICON将于3月20日-3月22日在上海新国际博览中心举行,JEOL展位号:T0308。在本次展会上,JEOL将以Poster和视频展示纳米分析及半导体制造的相关产品。 02JIB-PS500i 聚焦离子束双束显微镜 ...
通过与SEM像比较,SIM像能清楚地显示出归因于晶体取向不同的电子通道衬度差异,这些都非常适合于评估多层镀膜的截面及金属结构。 · 高性能FIB镜筒 · JIB-4000采用高性能的FIB镜筒,离子束流高达 60 nA,能进行快速研磨。大电流下的快速加工尤其适合于大面积的研磨,制备100 μm以上用来观察的截面非常轻松。 · 用户...
4 TEM-FIB 样品转移 通过选配的JEOL透射电镜样品杆夹具和加工样品托,TEM样品制备完毕后无需转移取出即可直接插入样品杆,简单高效。 不仅如此,JIB-PS500i的SEM Center操作软件更可以一体化控制牛津公司的OmniProbe 400型纳米操作手。 END www.jeol.com.cn