EIA / JESD22-A101-B:(Steady State Temperature Humidity Bias Life Test)稳态温湿度偏置寿命实验 JESD22-A102-C:(Accelerated Moisture Resistance Unbiased Autoclave)加速抗湿无偏压高压灭菌器 JESD22-A103-B:(High Temperature Storage Life)高温储存寿命 JESD22-A104-B:(Temperature Cycling)温度循环(2000年版)...
22 JESD22-A122 A Jun 2016 现行 功率循环 23 JESD22-B100 B Jun 2003 现行 物理尺寸 24 JESD22-B101 C Oct 2015 现行 外部目检 25 JESD22-B102 E Oct 2007 废止 可焊性,2014年废止,本文件已被J-STD-002D所取代。 26 JESD22-B103 B.01 Sep 2016 现行 振动,变频 27 JESD22-B104 C Nov 2004 ...
JESD22-A101C 1000hrs 11 高温加速应力试验 (HAST) JESD22-A110 12 不上电的高加速湿气渗透试验(unbiased HAST) JESD22-A118 96hrs 13 低温储存试验 (LTSL) JESD22-A119A / 14 管脚疲劳度试验 JESD22-B105C 15 易焊性试验 (Solderability) JESD22-B102E 16 晶须试验 JESD22A121 17 跌落试验 IMAPS...
Note:如下截图所示,该标准可以用JESD22-A101或者JESD22-A110代替使用。且大多数情况下,偏向于使用"JESD22-A110(高加速温湿度应力测试)或者JESD22-A101(稳态温湿度寿命测试)。 2:测试条件: 下面放了两张图,第一张图是旧版A100C版本,第二张截图是A100D最新版本,为啥放两张,是因为如果只看A100D最新版的图,会不...
JESD22-A101C 1000hrs 11 高温加速应力试验 (HAST) JESD22-A110 12 不上电的高加速湿气渗透试验(unbiased HAST) JESD22-A118 96hrs 13 低温储存试验 (LTSL) JESD22-A119A / 14 管脚疲劳度试验 JESD22-B105C 15 易焊性试验 (Solderability) JESD22-B102E 16 晶须试验 JESD22A121 17 跌落试验 IMAPS...
这个和JESD22-A100D相同,也是绝大部分普通开机测试的通常理解:设备在测试中一些基本参数超过限制,设备的功能在正常和***差条件下无法得到验证,则说明样品不能通过此测试。 个人笔记,如有不同观点的朋友欢迎交流,谢谢~~ ***后附上JESD22-A101-D标准下载地址如下: ...
EIA / JESD22-A101-B：稳态温湿度偏置寿命实验 JESD22-A102-C：加速抗湿无偏压高压灭菌器 JESD22-A103-B：高温储存寿命 JESD22-A104-B：温度循环（2000年版）JESD22-A104C：温度循环（2005年版）EIA / JESD22-A105-B：功率和温度循环 JESD22-A105C：功率和温度循环 JESD22-A110-B：高加速温度...
JESD22-A101C 1000hrs 11 高温加速应力试验 (HAST) JESD22-A110 12 不上电的高加速湿气渗透试验(unbiased HAST) JESD22-A118 96hrs 13 低温储存试验 (LTSL) JESD22-A119A / 14 管脚疲劳度试验 JESD22-B105C 15 易焊性试验 (Solderability) JESD22-B102E 16 晶须试验 JESD22A121 17 跌落试验 IMAPS...
这个和JESD22-A100D相同,也是绝大部分普通开机测试的通常理解:设备在测试中一些基本参数超过限制,设备的功能在正常和最差条件下无法得到验证,则说明样品不能通过此测试。 个人笔记,如有不同观点的朋友欢迎交流,谢谢~~ 最后附上JESD22-A101-D(Steady-State Temperature-Humidity Bias Life Test)标准下载地址如下(下载...
JEDEC版本号为JESD22-A101C,测试时间为1000小时。 高温加速应力试验(HAST)是一种测试半导体器件在高温高湿环境下的寿命的标准。JEDEC版本号为JESD22-A110. 不上电的高加速湿气渗透试验(unbiased HAST)是一种测试半导体器件在高温高湿环境下的寿命的标准。JEDEC版本号为JESD22-A118,测试时间为96小时。 低温储存试验...