JESD22-C101D (Revision of JESD22-C101C, December 2004) OCTOBER 2008 JEDEC SOLID STATE TECHNOLOGY ASSOCIATION NOTICE JEDEC standards and publications contain material that has been prepared, reviewed, and approved through the JEDEC Board of Directors level and subsequently reviewed and approved by the...
JEDEC_CDM_JESD22-C101D
1. JEDEC JESD22-A114:这个标准规定了集成电路(IC)和元件对人体模型(HBM)ESD的测试方法和要求。 2. JEDEC JESD22-A115:这个标准规定了IC和元件对扩散模型(CDM)ESD的测试方法和要求。 3. JEDEC JESD22-C101:这个标准规定了IC和元件对系统级模型(MM) ESD的测试方法和要求。 这些标准定义了ESD测试的条件、仪器...
JEDEC STANDARD Field-Induced ElectrostaticDischarge-Withstand Components JESD22-C101D (Revision of JESD22-C101C, December 2004) OCTOBER 2008 JEDEC SOLID STATE TECHNOLOGY ASSOCIATION NOTICE JEDEC standards and publications contain material that has been prepared, reviewed, and approved through the JE... ...
JESD22-C101-A:(Field-Induced Charged-Device Model Test Method for ElectrostaticDischarge-Withstand Thresholds of Microelectronic Components)微电子元件(CDM)静电放电(ESD)灵敏度测试 JESD22-C101E:(Field-Induced Charged-Device Model Test Method for ElectrostaticDischarge-Withstand Thresholds of Microelectronic Co...
部件名JEDECJESD22C101-C 下载JEDECJESD22C101-C下载 文件大小662.89 Kbytes 页7 Pages 制造商CREE [Cree, Inc] 网页http://www.cree.com/ 标志 功能描述19 dBTypicalSmallSignalGainat 4GHz 类似零件编号 - JEDECJESD22C101-C 制造商部件名数据表功能描述 ...
JS-002 CDM硬件平台代表了ESDA S5.3.1探针组件或测试头放电探针同JEDEC JESD22-C101验证模块和场板电介质的结合。图3所示为硬件对比。ESDA探针组件的放电路径中没有特定铁氧体。FICDM测试仪制造商认为,铁氧体是必要的,增加铁氧体可提高500 ps的半峰全宽(FWHH)额定最小值,并将Ip2(第二波峰)降至第一波峰Ip...
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JS-002 CDM硬件平台代表了ESDA S5.3.1探头组件或测试头放电探头和JEDEC JESD22-C101验证模块和场板电介质的组合。图 3 显示了此硬件比较。ESDA探头组件设计为放电路径中没有特定的铁氧体。FICDM测试仪制造商发现,铁氧体是必要的,因此添加铁氧体是为了增加半峰全宽(FWHH)规定的最小值500 ps,并将Ip2(第二波...
JS-002 CDM硬件平台代表了ESDA S5.3.1探针组件或测试头放电探针同JEDEC JESD22-C101验证模块和场板电介质的结合。图3所示为硬件对比。ESDA探针组件的放电路径中没有特定铁氧体。FICDM测试仪制造商认为,铁氧体是必要的,增加铁氧体可提高500 ps的半峰全宽(FWHH)额定最小值,并将Ip2(第二波峰)降至第一波峰Ip...