预览JEDEC JESD22-C101F-2013前三页 标准号 JEDEC JESD22-C101F-2013 发布 2013年 总页数 18页 发布单位 (美国)固态技术协会,隶属EIA 购买 正式版其他标准IEC PAS 62336:2002 加速耐湿.无偏差的HAST JEDEC JESD22-A102-C-2000 加速耐湿性.无偏差压热器 JEDEC JESD22-A118-2000 加速抗湿性.无偏HAST ...
(美国)固态技术协会,隶属EIA,关于jedec jesd22-c101f-2013的标准 JEDEC JESD22-C101F-2013微电子元件静电放电耐受阈值的场致充电器件模型测试方法 JEDEC JS-001-2010静电放电灵敏度测试人体模型(HBM) 组件级 [已取代:JEDEC JESD22-A114F、JEDEC JESD22-A114E、JEDEC JESD22-A114D、JEDEC JESD22-A114C.01、JEDE...
22 JESD22-A122 A Jun 2016 现行 功率循环 23 JESD22-B100 B Jun 2003 现行 物理尺寸 24 JESD22-B101 C Oct 2015 现行 外部目检 25 JESD22-B102 E Oct 2007 废止 可焊性,2014年废止,本文件已被J-STD-002D所取代。 26 JESD22-B103 B.01 Sep 2016 现行 振动,变频 27 JESD22-B104 C Nov 2004 ...
EIA /JESD22-B107-A:(Marking Permanency)标记永久性 JESD22-B108A:(Coplanarity Test for Surface-Mount Semiconductor Devices)表面贴装半导体器件的共面性试验 JESD22-B109:(Flip Chip Tensile Pull)倒装芯片拉力 JESD22-B110:(Subassembly Mechanical Shock)组件机械冲击 JESD22-B111:(Board Level Drop Test Met...
JEDEC所发布的文档分为JEDEC标准(JESD)、工程公报(JEB)、尝试性标准(TENTSTD)、工程规范(JES)、出版物(JEP)以及早期的EIA标准。此外,JEDEC还与其他标准化组织推出一些联合标准、规范和工业指导,如IPC-JEDEC标准。 二、JESD22的详细标准总结 至于JESD22,它是 JEDEC 发布的系列标准之一,具体而言是关于环境、可靠性和...
JEDEC所发布的文档分为JEDEC标准(JESD)、工程公报(JEB)、尝试性标准(TENTSTD)、工程规范(JES)、出版物(JEP)以及早期的EIA标准。此外,JEDEC还与其他标准化组织推出一些联合标准、规范和工业指导,如IPC-JEDEC标准。 二、JESD22的详细标准总结 至于JESD22,它是 JEDEC 发布的系列标准之一,具体而言是关于环境、可靠性和...
revisionofjesd22a104ajuly2000参见更新版本a104ctextjd006jda7eiajesd22a105btestmethoda105bpowerandtemperaturecycling上电和温度循环revisionoftestmethoda105afebruary1996textjd007jda8jesd22a106atestmethoda106athermalshock热冲击revisionoftestmethoda106previouslypublishedinjesd22bapril1995textjd008jda9jesd22a107asalt...
[JDb4]EIA/JESD78IC Latch-Up Test集成电路器件闩锁试验, March 1997 [Text-jd017] [JDb5]JESD22-C101-AField-Induced Charged-Device Model Test Method for Electrostatic-Discharge-Withstand Thresholds of Microelectronic Components微电子器件在电荷感应模型条件下的抗静电放电试验, (Revision of JESD22-C101) ...
对ESD敏感的元器件定义在“人体模型(ANSI/ESDA-JEDECJS-001)和放电元器件模型(JESD22-C101)”,ESDS 元器件的HBM及CDM敏感性需低于200V可能需要额外的保护措施(本标准外的保护要求)1.1 7、Applicable usersa) Semiconductor Manufacturers - from wafer electrical probe through shipment of finished devices. NOTE ...
JESD 74 EIA 365 JESD 6 JEP 123 JEP 134 JESD 82 JESD 12 JEP 79 JESD 8- 4 JESD 27 EIA 599-A JEP 114 JEP 137-A JESD 68 JESD 32 JESD 23 JESD 86 JEP 105 JESD 73-2 JESD 22-C101-A JESD 51- 4 MO 217-B JESD 1 JESD 11 JESD 2 JEP 112 JEP 101-C JEP 103-A 2002 Catalog ...