IEC 61967-2:2005 引用标准 IEC -60050-161:1990IEC 60050-131:2002IEC 61967-1 被代替标准 IEC 47A/722/FDIS:2005 适用范围 该测试程序定义了一种测量集成电路 (IC) 电磁辐射的方法。被评估的 IC 安装在 IC 测试印刷电路板 (PCB) 上,该印刷电路板夹在横向电磁 (TEM) 或宽带千兆赫 TEM (GTEM) 顶部或...
IEC 61967-2-2005 下载积分: 1500 内容提示: NORME INTERNATIONALECEIIEC INTERNATIONAL STANDARD 61967-2Première éditionFirst edition2005-09 Circuits intégrés – Mesure des émissions électromagnétiques, 150 kHz à 1 GHz – Partie 2: Mesure des émissions rayonnées – Méthode de cellule TEM et...
150 khz to 1 ghz part 2: measurement of radiated emissions tem cell and wideband tem cell method numro de rfrence reference number cei/iec 61967-2:2005 copyright international electrotechnical commission provided by ihs under license with ieclicensee=ihs employees/1111111001, user=wing, bernie not...
在中国标准分类中,iec61967-2涉及到半导体集成电路。 国际电工委员会,关于iec61967-2的标准 IEC 61967-2:2005集成电路.150kHz-1GHz电磁辐射的测量.第2部分:辐射释放测量.TEM辐射室和宽频TEM辐射室法 海湾阿拉伯国家合作委员会标准组织,关于iec61967-2的标准 ...
IEC61967-2:2005EN-FR集成电路-电磁辐射的测量-150kHz至1GHz部分2:辐射电磁波的测量-TEM单元和宽频TEM单元法是一系列测量无线电频率和更高频率设备电磁辐射的标准。IEC61967系列标准提供了用于测量设备产生的电磁辐射的方法,这些方法包括电场、磁场和电磁场。IEC61967-2:2005EN-FRIntegratedcircuits-Measurementofelectroma...
产生电磁干扰的MCU耦合方法主要包括:传导发射、磁近场辐射、电近场辐射和直接辐射IEC61967-2标准(SAE J1752-3)推荐了使用用于150kHz至1GHz辐射发射的TEM(横向电磁波)单元(RE)MCU(集成电路)的测试。随着MCU系统的快速发展朝着小型化、高密度、高速化的方向,集成电路的工作频率电路不断增加,RE测试已成为目前的MCU产...
IEC 61967-2:2005 Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 2: Measurement of radiated emissions - TEM cell and wideband TEM cell method Standards revision history: 2005-09-29IEC 61967-2:20052.0efficiently ...
IEC 61967-2, 版本1: 集成电路. 150 kHz至1 GHz电磁辐射的测量. 第2部分: 辐射发射测量. TEM小室和宽带TEM小室方法 喜欢 0 阅读量: 273 标准号: TS EN 61967-2-2006 发布日期: 2006-01-17 发布单位: 国外-国外国家-土耳其标准 TR-TSE ICS: 33 电信、音频和视频工程-33.100 电磁兼容性(EMC)-33.100....
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TEM辐射发射测试。IEC61967-2集成电路电磁发射测量标准(频率150kHz到1GHz)辐射发射测量方法——TEM小室法与宽带TEM小室法和北美汽车工程协会制定的集成电路电磁兼容测试标准SAEJ1752-3是同一种测试方法。 SAEJ1752-3也是车规认证AECQ100中的E9测试项,是目前实验室做的最多的项目,大多数客户都是为过E9项来做的,该...