IEC 61967-4 1Ω 150Ω直接耦合法集成电路电磁兼容IC EMC测试系统解决方案 3 p. IEC 61967-3表面扫描法集成电路电磁兼容IC EMC测试系统解决方案 3 p. IEC 61967-2 类TEM小室法集成电路电磁兼容IC EMC测试系统解决方案 3 p. IEC 61967-2 TEM小室法集成电路电磁兼容IC EMC测试系统解决方案 2 p. 韩国...
IEC 61967-2:2005的标准全文信息,该测试程序定义了一种测量集成电路 (IC) 电磁辐射的方法。被评估的 IC 安装在 IC 测试印刷电路板 (PCB) 上,该印刷电路板夹在横向电磁 (TEM) 或宽带千兆赫 TEM (GTEM) 顶部或底部切割的配合端口(称为墙壁端口)上。 ) 细胞。测试板不像常
IEC61967-2:2005EN-FR集成电路-电磁辐射的测量-150kHz至1GHz部分2:辐射电磁波的测量-TEM单元和宽频TEM单元法是一系列测量无线电频率和更高频率设备电磁辐射的标准。IEC61967系列标准提供了用于测量设备产生的电磁辐射的方法,这些方法包括电场、磁场和电磁场。IEC61967-2:2005EN-FRIntegratedcircuits-Measurementofelectroma...
《IEC-61967-2-2005.pdf》由会员分享,可在线阅读,更多相关《IEC-61967-2-2005.pdf(52页珍藏版)》请在人人文库网上搜索。 norme internationale cei iec international standard 61967-2 premire dition first edition 2005-09 circuits intgrs mesure des missions lectromagntiques, 150 khz 1 ghz partie 2: ...
2023-12-14|pdf|842.77KB|次下载|免费 资料介绍 产生电磁干扰的MCU耦合方法主要包括:传导发射、磁近场辐射、电近场辐射和直接辐射IEC61967-2标准(SAE J1752-3)推荐了使用用于150kHz至1GHz辐射发射的TEM(横向电磁波)单元(RE)MCU(集成电路)的测试。随着MCU系统的快速发展朝着小型化、高密度、高速化的方向,集成电...
IEC 61967-2:2005 引用标准 IEC -60050-161:1990IEC 60050-131:2002IEC 61967-1 被代替标准 IEC 47A/722/FDIS:2005 适用范围 该测试程序定义了一种测量集成电路 (IC) 电磁辐射的方法。被评估的 IC 安装在 IC 测试印刷电路板 (PCB) 上,该印刷电路板夹在横向电磁 (TEM) 或宽带千兆赫 TEM (GTEM) 顶部或...
IEC 61967-2 (2005-09)IEC / CEI
IEC 61967-2 (2005-09)
IEC 61967-2:2005 Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 2: Measurement of radiated emissions - TEM cell and wideband TEM cell method Standards revision history: 2005-09-29IEC 61967-2:20052.0efficiently ...
IEC 61967-2-2005-2005 IEC 61966-6-2005-2005 IEC 61970-1-2005-2005 IEC 62132-5-2005-2005 IEC 62053-52-2005-2005 IEC 62093-2005-2005 IEC 61338-1-4-2005-2005 IEC 60061-1 AMD 36-2005-2005 IEC 60317-11-2005-2005 IEC 60384-6-2005-2005 IEC 60384-6-1-2005-2005 IEC 60439-2-2005-...