IEC 61967 本部分的测量程序定义了一种使用 IC 带状线在 150 kHz 至 3 GHz 频率范围内测量集成电路 (IC) 电磁辐射的方法。正在评估的 IC 安装在 EMC 测试板 (PCB) 上,位于 IC 带状线布置的有源导体和接地平面之间。IEC 61967-8:2011相似标准CEI
IEC 61967-8:2023 RLV 2023年 总页数 17页 发布单位 国际电工委员会 当前最新 IEC 61967-8:2023 RLV 标准名称:集成电路-电磁辐射测量-第8部分:辐射发射测量-IC带状线方法 适用范围:本标准规定了集成电路(IC)在辐射发射测量中的测试方法,特别是使用IC带状线方法进行测量的详细步骤和条件。适用于集成电路设计和...
英文名称:Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 8: Measurement of radiated emissions - IC stripline method 标准状态:现行 发布日期:2011-08-11 文档简介 IEC61967-8:2011EN-FR是关于集成电路电磁辐射测量标准的一部分,它专门针对ICstripline方法进行了详细的规定。该标准主要涵盖了...
IEC 61967-8 Edition 2.0 2023-05 REDLINE VERSION INTERNATIONAL STANDARD Integrated circuits – Measurement of electromagnetic emissions – Part 8: Measurement of radiated emissions – IC stripline method IEC 61967-8:2023-05 RLV(en) ® colourinside...
IEC61967-8当前仪器分类及其子分类包含以下测试设备: FCC-TEM-JM7D 横电磁波 TEM cell 小室 10kHz-3GHz FCC-TEM-JM7D 是由美国FCC Fischer Custom Communications, Inc.生产的横电磁波TEM小室。FCC授权由深圳EUT... 更多介绍 FCC-TEM-JM7C 横电磁波 TEM cell 小室 DC-8GHz FCC-TEM-JM7C 是由美国...
The ICIM SL measurement service determines the electromagnetic radiation of an IC in the frequency range from 150 kHz to 3 GHz in accordance with the IEC 61967-8 standard. The test IC is mounted on an IC measurement adapter printed circuit board (PCB), w
2021年3月16日，IEC 发布了IEC 61967-4:2021《集成电路 电磁发射测量 第4部分：传导发射测量 1 Ω/150 Ω 直接耦合法》（第2.0版），该版本代替IEC 61967-4:2006（第1.1版）。本标准规定了直接用1 Ω阻性探头测量射频电流和150 Ω耦合网络测量射频（RF）电压以测量集成电路（IC）传导电磁发射（EME）的...
GSO IEC/TR 61967-4-1:2015 购买 正式版本技术报告作为应用指南,与 IEC 61967-4 相关。 IC 类型划分为 →IC 功能模块和带有 CPU 的→ 内核的软件模块也可用于 IEC 61967 的第 3、5 和 6 部分。该报告通过对集成电路 (IC) 类型进行分类,并为与 IC 类型分类相关的测试应用提供提示,为执行 IEC 61967-4...