CG6300提供更高的解析度、测量再现性以及高画质高解析度FEB测量装置(CD-SEM)CG6300通过电子光学系统的全新设计提高了解析度,并进一步提高了测量可重复性和图像画质。 电子显微镜线圈能够选择从对象材料反射出的二次电子和背向散射电子,实现BEOL制程*1的Via-in-trench*2和3D-NAND、DRAM工程中的深沟槽・洞底的尺寸...
因此，我们对这台HITACHI CG6300进行了全面的检测和评估，确保其在各方面都符合使用要求。同时，我们还提供一定期限的保修服务，让您在使用过程中更加放心。总的来说，这台二手HITACHI CG6300高解析度FEB测量装置，不仅具有卓越的性能和稳定的测量精度，更拥有完善的售后保障和技术支持。我们相信，它将成为您半导体制造...
Metrology Solution High-Precision Electron Beam Metrology System GT2000 CD-SEM to meet the needs of semiconductor devices development and mass production in High-NA EUV generation Advanced CD Measurement SEM CG7300 For the EUV era device production – High Reliability CD-SEM...
测量和分析, 发展成为一个塑造未来的公司。 1 1 /1 Play / Pause 日立高新技术产品解决方案 产品活动信息 按产品搜索 联系我们 有关产品和服务的查询 支持信息 推出会员服务 活动 新活动 展览 展览会 May 15, 2025 - May 17, 2025 CIBF2025第十七届(深圳)国际电池技术交流【2025年5月15日-17日】 ...
回收IDT、CYPRESS、RENESAS(HITACHI) 在大多数情况下,消费者并未感受到投资该技术的强烈冲动。在智能手机这一块小小的屏幕之上,实现的功能几乎已经覆盖了消费者的日常生活,而产生的数据已经足以让商家为你的和感的新闻。近日,部信软司副司长董大健表示,正研究制定2021年-2023年新能源汽车的积分比例,并且将完善充电、...