ftir测量膜厚原理 FTIR(Fourier Transform Infrared)是一种基于红外光谱的分析技术,可以用于测量膜的厚度。其原理如下: 1.红外辐射:FTIR使用一个红外辐射源发射红外光束,该光束通过一个干涉仪进行分光。红外光具有特定的波长范围,可以与材料中的特定分子产生共振吸收。 2.膜的厚度测量:在FTIR测量膜厚度时,样品通常是...
9月14日，盖泽华矽半导体科技（上海）有限公司（以下简称：盖泽半导体），两台自主研发的FTIR膜厚量测设备GS-M08X，正式交付两家客户。同日向两家头部半导体客户交付外延膜厚量测设备，实属业界罕见。图1：两台GS-M08X设备揭幕 图2：两台GS-M08X设备出机 作为一款量产设备，该机种基于FTIR红外光谱技术，可以精准测...
顶点光电子商城2024年9月18日消息: 近日,盖泽华矽半导体科技(上海)有限公司(盖泽半导体)成功交付两台自主研发的FTIR(傅里叶变换红外光谱)膜厚量测设备GS-M08X给两家客户,这一消息标志着公司在半导体测试设备领域取得了重要的技术突破和市场认可。 FTIR技术作为一种非接触、非破坏性的测量方法,在半导体行业中广泛应用...
9月14日，上海盖泽半导体科技自主研发的FTIR膜厚量测设备GS-M08X，成功交付给两家重要客户。这一里程碑式的事件，标志着该公司在半导体设备领域的又一重要突破。同时，向两家行业领军企业交付外延膜厚量测设备，更是展现了其在业界的非凡实力与影响力。这款量产设备依托FTIR红外光谱技术，能精确测量晶圆中多层外延层的...
9月14日，盖泽半导体迎来了一个重要的里程碑，其自主研发的FTIR膜厚量测设备GS-M08X，成功交付给了两家客户。此外，该公司在同一天还向两家行业领先的半导体企业交付了外延膜厚量测设备，这一举措在业界实属罕见，充分展现了盖泽半导体在膜厚量测领域的实力与影响力。该GS-M08X设备，作为一款高性能的量产设备，...
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2024年9月14日,盖泽华矽半导体科技(上海)有限公司正式交付两台自主研发的FTIR膜厚量测设备GS-M08X。这标志着在半导体行业的一个重要里程碑,意味着国产设备在技术和市场需求方面取得了突破,不仅提升了产业信心,更为中国半导体领域的自主创新奠定了基础。 技术创新重塑半导体量测 GS-M08X作为一款量产设备,基于FTIR(傅里...
上海优睿谱半导体设备有限公司(简称“优睿谱”)再斩获佳绩。近日,公司首台国产碳化硅(SiC)外延膜厚测量FTIR设备Eos 200Lite正式交付客户。 FTIR是一款利用红外光谱经傅里叶变换来分析各种外延层厚度以及元素浓度的测量设备,可用于测量一代半导...
2 半导体 FTIR 外延膜厚量测设备实现新突破 65 2024-09 3 国内半导体设备需求不断攀升,这一环节不可忽视 38 2024-09 4 盛美上海推出新型面板级电镀设备 42 2024-09 5 国产电子束量测检测核心技术EOS,迎来关键突破 38 2024-09 6 终结海外垄断,鑫巨半导体ECD设备:国产自主,引领全球技术革命!