9月14日，盖泽华矽半导体科技（上海）有限公司（以下简称：盖泽半导体），两台自主研发的FTIR膜厚量测设备GS-M08X，正式交付两家客户。同日向两家头部半导体客户交付外延膜厚量测设备，实属业界罕见。图1：两台GS-M08X设备揭幕 图2：两台GS-M08X设备出机 作为一款量产设备，该机种基于FTIR红外光谱技术，可以精准测...
FTIR测量膜厚是一种重要的非破坏性分析方法,可以用于表征薄膜的厚度和结构。其基本原理是利用入射光在薄膜中发生干涉现象,通过测量干涉图样的变化来推断出薄膜的厚度。在实际应用中,需要注意基底选择、光束角度、环境条件以及校正等问题。FTIR测量膜厚在光学薄膜、聚合物薄膜、面粘贴剂和生物医学材料等领域具有广泛应用。
2024年9月14日,盖泽华矽半导体科技(上海)有限公司正式交付两台自主研发的FTIR膜厚量测设备GS-M08X。这标志着在半导体行业的一个重要里程碑,意味着国产设备在技术和市场需求方面取得了突破,不仅提升了产业信心,更为中国半导体领域的自主创新奠定了基础。 技术创新重塑半导体量测 GS-M08X作为一款量产设备,基于FTIR(傅里...
顶点光电子商城2024年9月18日消息: 近日,盖泽华矽半导体科技(上海)有限公司(盖泽半导体)成功交付两台自主研发的FTIR(傅里叶变换红外光谱)膜厚量测设备GS-M08X给两家客户,这一消息标志着公司在半导体测试设备领域取得了重要的技术突破和市场认可。 FTIR技术作为一种非接触、非破坏性的测量方法,在半导体行业中广泛应用...
此类保护性镀膜通常为多层工业镀膜,其工艺流程中涉及 基底材料、基底预处理、底漆/粘合剂施涂以及用于密封镀膜的面漆 或膜压层。为了确保镀膜得到有效施涂和固化,在生产过程中工程师 进行下一道工序之前必须等待一段规定的时间。然而,时间的长短可 能随着工艺相关条件的不同而变化,因此必须要等待最长的时间才能 确保...
优睿谱膜厚测量高端应用开发经理庄育军表示,FTIR的高端应用场景(如Si-H, Si-O等化学键含量测量;B/P/F等元素浓度测量)一直被国外设备供应商垄断。立足于本土供应链,通过和国内供应商特别是客户的紧密合作,优睿谱开发出适用于上述化学键测量的相关设备。
导读: 9月14日,盖泽华矽半导体科技(上海)有限公司两台自主研发的FTIR膜厚量测设备GS-M08X,同日向两家头部半导体客户交付外延膜厚量测设备。 9月1...查看全文 相关企业信息 公司名称:盖泽华矽半导体科技(上海)有限公司 法人代表:周亭成 注册资本:490.5万人民币 成立时间:2016-01-11 公司类型:有限责任公司(自然人...
软件名称FTIR晶圆外延片膜厚测量算法软件 软件简称-版本号V1.0 登记号2023SR0578108分类号- 著作权人上海优睿谱半导体设备有限公司首次发表日期2022-12-26 登记日期2023-06-02 该公司其他软件著作权 序号登记日期软件全称软件简称登记号版本号 12024-03-08碳化硅晶圆边缘缺陷检测系统SICE2024SR0366978V1.0 ...
样品要求:粉体样品100mg以上;薄膜:20×20mm以上,厚度不超过200微米以下(对于厚度大的样品常温下,常规透过模式信号好的话可以尝试);液体提供0.5ml以上;(由于原位测试的复杂性,请尽量提供一份备用样) 结果展示 常见问题 原位红外可实现的原位条件有哪些? 1、变温; 2、通气氛; 3、光照; 4、电化学;...