1. 样品要求:粉体样品100mg以上;薄膜:20×20mm以上,厚度不超过200微米(对于厚度大的样品常温下,常规透过模式信号好的话可以尝试);液体提供0.5ml以上;(由于原位测试的复杂性,请尽量提供一份备用样) 2. 特别注意:所测样品需要干燥,如需干燥处理,请提前确认干燥条件;液体样品不能含有水;原位红外请务必确认已测试过...
FT-IR简介 目录 1 仪器构造和原理 2红外样品常用制备方法 3 红外光谱的应用 4 实例与图谱分析 2 FT-IR简介 一、仪器的构造和原理 1.定义：中红外光为波长2.5-25um（或4800-400/cm）的辐射光，它照射到样品后，可以被吸收、透射、反射、散射或激发荧光（即拉曼效应）。分子吸收中红外光后产生振动和转动的...
可将它们直接加热熔融后涂制或压制成膜。也可将试样溶解在低沸点的易挥发溶剂中,涂在盐片上,待溶剂挥发后成膜测定。当样品量特别少或样品面积特别小时,采用光束聚光器,并配有微量液体池、微量固体池和微量气体池,采用全反射系统或用带有卤化碱透镜的反射系统进行测量 仪器操作 1.样品准备(固体样品) 取样品约0.5...
镀金聚碳酸酯滤膜具有极好的反射能量,但无透射能量,而PVDF滤膜在透射和反射模式下均显示出显著的吸收带,因此不合适。 建议使用硅滤膜进行透射分析,并使用硅、银膜或镀金聚碳酸酯进行反射分析。 硅的唯一缺点是相对成本较高以及不是标准过滤系统所直接兼容的尺寸,属于“非标准”尺寸(矩形尺寸)。 两种不同滤膜类型的示...
1、【FT-IR】傅立叶红外光谱附件的操作A Omni采样器 Omni Sample衰减全反射附件,晶体材料为Ge。扫描范围:4000675 cm-1。样品要求:固体样品或水样,包括纤维材料,均可直接用Omni采样器测定。固体样品测试与样品厚度无关。1、参数设定:Omni Sample为智能化附件,安装好附件接上主机后,相应的参数自动识别。如对某个设定...
将磨好的物料小心地装入模具collar小孔里,注意不要装得太多,以免压片太厚影响测试效果; 然后盖上universal anvil 上磨,调节好压机高度,将模具装入手动压机仓里; 推上活动手柄使模具压紧,并保持压力1min左右,放下活动手柄取出collar 连同样品,置于固体样品架上测试。 将样品直接加热熔融后涂制或压制成膜,也可将试样...
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谱图的表示方法:质厚衬度象、明场衍衬象、暗场衍衬象、晶格条纹象、和分子象 提供的信息:晶体形貌、分子量分布、微孔尺寸分布、多相结构和晶格与缺陷等 扫描电子显微术SEM 分析原理:用电子技术检测高能电子束与样品作用时产生二次电子、背散射电子、吸收电子、X射线等并放大成象 谱图的表示方法:背散射象、二次...
1.1 本测试方法涵盖使用压制薄膜(程序 A)或模制板(程序 B)测定 EVA 共聚物中乙酸乙烯酯含量的红外程序以及样品厚度的内部校正。 1.2 除1.3规定外,本试验方法适用于含有0.5%至55%醋酸乙烯酯的EVA共聚物的分析。 1.3 滑石粉干扰 1020 cm−1 醋酸乙烯酯谱带。树脂含有1.