聚焦离子束(FIB)系统利用镓离子源和双透镜聚焦柱，用强烈的聚焦离子束轰击标本表面，以进行精密材料去除、沉积和高分辨率成像。简单来说是聚合了FIB处理样品和SEM观察成相的功能。其中FIB是将Ga元素离子化成Ga+，然后利用电场加速，再利用静电透镜聚焦将高能量的Ga+打到指定点从而达到处理样品的功能。FIB-SEM切片测试...
样品制备:在透射电子显微镜(TEM)和扫描电子显微镜(SEM)分析中,FIB是制备超薄样品截面的理想选择。 三维重构:通过逐层切割和成像,可以构建材料和生物样品的三维结构。 集成电路修改和修复:FIB允许对芯片进行局部修改,包括连接路径的切断和重建,是电路设计验...
FIB-SEM技术通过结合聚焦离子束(FIB)的高精度加工能力和扫描电子显微镜(SEM)的高分辨率成像功能,实现了对材料微观结构的深入分析。与传统的分析技术相比,FIB-SEM能够在纳米尺度上对材料进行切割、刻蚀和沉积,同时获取材料表面的高分辨率图像。FIB技术特点FIB技术利用聚焦的离子束对样品进行精确加工,离子束的直径可从几百...
爱企查为您提供成都世纪美扬科技有限公司fib扫描电镜 FIB-SEM测试 微纳结构加工 三位原子探针TEM样品制备等产品,您可以查看公司工商信息、主营业务、详细的商品参数、图片、价格等信息,并联系商家咨询底价。欲了解更多测试狗、SEM测试、TEM测试、扫描电镜检测、同步辐射测
产品详细介绍 样品要求 1、无挥发性,固体、块体长宽zuihao小于20mm,高度小于5mm。 2、样品要求导电性良好,如果导电性比较差的话需要进行喷金或喷碳处理。 3、透射样品制备只保证切出的样品厚度可以拍透射。 所属分类:中国商务服务网 / 检测服务 聚焦离子束扫描电镜(FIB-SEM)测试的文档下载: PDF DOC TXT ...
聚焦离子束显微镜(FIB-SEM) 设备型号:Zeiss Auriga Compact聚焦离子束(FIB)与扫描电子显微镜(SEM)耦合成为FIB-SEM双束系统后,通过结合相应的气体沉积装置,纳米操纵仪,各种探测器及可控的样品台等附件成为一个…
本文将重点探讨FRP中纤维断裂（Fiber Breakage，简称FIB）的失效分析，并结合扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscope，简称SEM）断口测试技术，对FIB失效进行深入研究。一、FIB失效的机理与原因FIB失效通常指的是FRP中纤维在应力作用下发生断裂的现象。这种失效形式可能由多种因素引起，包括但不限于：1. 应力集中：...
FIB-SEM为半导体封装失效分析测试的文档下载:PDFDOCTXT 法定代表人汤俊平 主营产品建筑石材检测,生物质检测,水质检测 经营范围检验检测服务;室内环境检测;放射性污染监测;建设工程质量检测;认证服务;船舶检验服务;特种设备检验检测;农产品质量安全检测;职业卫生技术服务;安全评价业务;机动车检验检测服务;水利工程质量检测 ...
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为了测量窗帘和充电工件的严重程度,引入了专门的新型质量指标。在具有不同特征的模拟和实验FIB-SEM数据集上广泛测试了这五个指标。这些指标允许对FIB-SEM图像进行快速有效的评估,并且与视觉印象很好地吻合,这反过来又与获得良好空间结构分割的机会密切相关。