静态faults包括Single cell fault, Double cell fault, Address-decoder fault,其中Single cell fault主要介绍Stuck-at fault、Transition fault,Double cell fault主要介绍Coupling fault;动态faults包括Recovery fault, Retention fault,接下来让我们深度学习部分静态Memory Fault Model。 3.2.1Stuck-at Fault SAF(Stuck-at...
1、Stuck-at Fault——用于低速测试 最常见的一类故障模型。它分为"Stuck-at 1"和“Stuck-at 0”,用来模拟器件间互连的短路和短路故障。 如上图,要测试SA1/SA0需要AB端口给出不同的激励,工具有算法自动推导,这类故障都是在慢速时钟下测试的,统称DC SCAN。 2、At-Speed Fault——用于高速测试 这种故障模型...
Fault Model，即故障模型，主要用于描述和模拟电路中的潜在故障；而Defect，即缺陷，则更多地指代实际生产过程中出现的物理或逻辑错误。了解这两者的差异与联系，对于我们深入理解Scan元素的应用和重要性至关重要。Stuck-at Fault与低速测试在DFT流程中，Stuck-at Fault模型被广泛应用于低速测试阶段。这种故障模型通过模拟...
卡死故障(Stuck-at fault)是最常见的一种故障模型,它假设由于某些原因,一些线路的值永远固定为0或1,从而影响了正常功能。两者可以写为stuck-at-0(SA0)和stuck-at-1(SA1)。 Delay fault 延迟故障是另一种较为常见的故障,即使电路在逻辑上正常工作,也依然需要考虑时序的约束和限制。电路路径上延迟过大,可能会...
1.固定故障(SAF),即Stuck at Fault 存储单元stuck at 1或0。 2.转换故障(TF),即Transition fault 比如可以1->0,但是无法完成0->1的准换。 3.耦合故障(CF),即Couple Fault 由于邻接单元,许多单元共享字线和位线,写入一个单元可能导致另一个单元出现相同值。反向耦合(CFin, Inversion Couple Fault)是指当...
Stuck-at fault model 在stuck-at故障模型中,最常见的故障模型是single stuck-at (SSA) 模型。SSA指的是这个故障stuck-at 0或者1. stuck-at 0的话我们通常考虑发生故障的地方直接接地端。stuck-at 1的话,通常是接到了VDD,也就是供电端。 当我们为SSA故障模型生成测试向量时,我们认为系统中只有一个故障,当同...
Stuck-at Fault———用于低速测试 At-Speed Fault———用于在速测试 Transition Delay Fault Model Path Delay model D算法 How Scan Test works 7 ❝ 这是一个pattern ❞ Transition Launch Mode Full scan & Partial scan ATSPEED TEST & OCC ...
短路：电路中不应相连的部分出现异常连接。断路：电路中应相连的部分出现断开。Stuck-at fault：芯片中的某个逻辑点在测试时无法正常切换状态。Transition fault：芯片在切换状态时出现延迟或无法成功切换。Bridge fault：不应相连的金属线之间出现异常连接。DFT所涵盖的关键技术 DFT（Design For Test）在芯片设计中占据...
1.Stuck-at fault 短路(short) 断路(open) 2.Transition fault 3.Bridge fault DFT通常包括哪些技术 1.Scan and ATPG(自动测试向量产生) 用来测试芯片中的组合和时序逻辑 2.Mbist 用来测试芯片中的Ram,Rom 3.Boundary scan(TAP) 主要用来测试芯片间互联 ...
Stuck-at Fault———用于低速测试 At-Speed Fault———用于在速测试 Transition Delay Fault Model Path Delay model D算法 How Scan Test works ❝这是一个pattern Transition Launch Mode Full scan & Partial scan ATSPEED TEST & OCC Scan chain synthesis flow——综合以后加入 ...