Stuck-at Fault与低速测试在DFT流程中，Stuck-at Fault模型被广泛应用于低速测试阶段。这种故障模型通过模拟电路中的固定故障，如“1”或“0”的粘连，来帮助检测电路的潜在问题。通过低速测试，我们可以有效地识别和定位这些故障，从而确保IC的可靠性和性能。At-Speed Fault与高速测试在DFT的流程中，At-Speed Fault模...
在芯片的制造过程中，由于诸多因素如粉尘污染和工艺偏差等的影响，会产生以下几种常见的制造缺陷：短路：电路中不应相连的部分出现异常连接。断路：电路中应相连的部分出现断开。Stuck-at fault：芯片中的某个逻辑点在测试时无法正常切换状态。Transition fault：芯片在切换状态时出现延迟或无法成功切换。Bridge fault：不...
Stuck-at fault model 在stuck-at故障模型中,最常见的故障模型是single stuck-at (SSA) 模型。SSA指的是这个故障stuck-at 0或者1. stuck-at 0的话我们通常考虑发生故障的地方直接接地端。stuck-at 1的话,通常是接到了VDD,也就是供电端。 当我们为SSA故障模型生成测试向量时,我们认为系统中只有一个故障,当同...
1、Stuck-at Fault——用于低速测试 最常见的一类故障模型。它分为"Stuck-at 1"和“Stuck-at 0”,用来模拟器件间互连的短路和短路故障。 如上图,要测试SA1/SA0需要AB端口给出不同的激励,工具有算法自动推导,这类故障都是在慢速时钟下测试的,统称DC SCAN。 2、At-Speed Fault——用于高速测试 这种故障模型...
Stuck-at fault 卡死故障(Stuck-at fault)是最常见的一种故障模型,它假设由于某些原因,一些线路的值永远固定为0或1,从而影响了正常功能。两者可以写为stuck-at-0(SA0)和stuck-at-1(SA1)。 Delay fault 延迟故障是另一种较为常见的故障,即使电路在逻辑上正常工作,也依然需要考虑时序的约束和限制。电路路径上...
SAF(Stuck-at Fault):存储单元中的值固定为0,称为SA0;存储单元中的值固定为1,称为SA1。正常情况下,对存储单元写入0时,存储单元的值为0,写入1时,存储单元的值为1。但出现SA0故障时,无论写入0还是1,存储单元的值始终固定在0;同理,出现SA1故障时,无论写入0还是1,存储单元中的值始终固定为1。3.2.2Trans...
1.Stuck-at fault 短路(short) 断路(open) 2.Transition fault 3.Bridge fault DFT通常包括哪些技术 1.Scan and ATPG(自动测试向量产生) 用来测试芯片中的组合和时序逻辑 2.Mbist 用来测试芯片中的Ram,Rom 3.Boundary scan(TAP) 主要用来测试芯片间互联 ...
Stuck-at Test 也叫做Static Test, DC Test。它是针对制造工艺中 Stuck-at 类型失效机制的测试。Stuck-at是最基本的一种失效机制, 比如某个net短路到Ground,就叫做Stuck-at-0 Fault。某个net短路到VDD,就叫做Stuck-at-1Fault。 Transition fault 是对timing path 的 slow-to-rise 或 slow-to-fall失效机制的...
最后，介绍Pseudo-stuck-at故障模型，它在传统stuck-at模型基础上，通过观察电源对芯片输出电流的影响，提供了另一种故障诊断方法。这一模型利用了CMOS逻辑中非翻转状态门的低静态电流特性，以此识别断路、短路和桥接故障。故障模型的全面理解，为DFT工作奠定了基础，是ATPG（自动测试模式产生）策略设计的关键...
Stuck-at Fault———用于低速测试 At-Speed Fault———用于在速测试 Transition Delay Fault Model Path Delay model D算法 How Scan Test works 7 ❝ 这是一个pattern ❞ Transition Launch Mode Full scan & Partial scan ATSPEED TEST & OCC ...