capture，shift是scan-chain D Filp-Flop的两种工作模式，func好像是function clock，也就是正常工作模式...
使用分步法可有效降低SCAN Transition Tset时的capture功耗,并且由于传统方法对不同时钟域之间的交互连接处测试点覆盖不全,分步法还可以增加测试覆盖率,但缺点是测试向量会增多,测试时间也会变长,导致测试成本增加。 除了分步法,还有一些其它方法可降低扫描测试过程中的功耗。在shift过程中,我们可以通过加不同数量的buffe...
但在shift阶段(Shift Enable= 1),scan clock在 OCC 的输出端propagate。在capture阶段(Shift Enable = 0),移位寄存器开始shift“1”并启用Clock Gate,以根据test type来允许单脉冲或双脉冲。OCC 在stuck-at test(At-speed Mode = 0)中生成一个时钟脉冲,在at-speed test(At-speed Mode = 1)中生成两个时钟...
值得注意的是,在IDDQ向量以及多个SSH Nodes一起ATPG Generation的时候,多个SSH Nodes之间的Capture还是会对齐。 图27 SSN Retargeting with independent shift/capture 独立shift/capture带来几个好处:一个可以减少wrapper cores间因shift cycle不一致而导致产生的padding cycle,在SSN Retargeting的时候可以灵活地进行Bandwidth...
dft相关理论及timing和constraint DFT与function的constraint相似，时钟与function可能有所差异，切换可能通过tm译码，数据datapath有区别，但总体constraint相似。在timing上，ATSPEED与function类似，slow shift和capture涉及较慢时钟，通常不会引起太多setup问题，可能需要额外hold时间调整。function包含bist、bscan等...
在设计的不同模式、pinmask和MUX结构中，处理方式各有不同。例如，debug模式通常采用慢速（slow）运行，用于调试；扫描模式（scan mode）中的shift capture需要在高速运行下进行慢速的扫描捕捉；JTAG相关的模式（bsd mode）涉及到JTAG操作；而模拟模式则可能涉及第三方或模拟IP的测试，工作模式较复杂。针对...
shift/capture until test is done. 测试设置 初始化设计并设置条件以进入测试模式(仅在测试开始时)。 加载/卸载-移位 将已知值串行地移入扫描链。 测试结果被移出。 捕获 应用由已知值(Scan和Pl)定义的激励,允许组合电路在功能模式下运行,测量输出(PO),将测试结果时钟入扫描链。
控制測試時位移(shift)和擷取(capture)的切換活動可以透過同時利用DFT邏輯、功能邏輯和ATPG演算法的功率控制特性來實現該目標。 在改變測試的操作期間,可以使用低功耗填充(low-power fill)和交錯移位時脈(staggered shift clocking)等ATPG技術,以及像低功耗正反閘控(low-power flop gating)和測試壓縮邏輯中內建的移位...
capture，shift是scan-chainD Filp-Flop的两种工作模式，func好像是function clock，也就是正常工作模式（...
在测试模式下，动态功耗可能远高于功能模式，主要由四个因素造成：测试功耗与逻辑翻转率相关，测试模式下并行运行的模块数量增加，跳变数成倍增长；高速测试和并行测试方式导致功耗激增；DFT逻辑在正常模式下处于关闭状态，但在测试时持续工作，增加动态功耗；扫描测试中，shift和capture操作引起不必要的节点翻转...