在shift过程中,我们可以通过加不同数量的buffer cell这种方式将scan chains分成多个组,使得不同的scan chain在不同的上升沿toggle,这样就可以降低功耗了。 图10 添加不同buffer数降低测试功耗示例 扫描测试时capture通常是同一个clock domain的capture clock同时翻转,和shift相比,capture采用高速时钟,会在极短时间内产生...
但在shift阶段(Shift Enable= 1),scan clock在 OCC 的输出端propagate。在capture阶段(Shift Enable = 0),移位寄存器开始shift“1”并启用Clock Gate,以根据test type来允许单脉冲或双脉冲。OCC 在stuck-at test(At-speed Mode = 0)中生成一个时钟脉冲,在at-speed test(At-speed Mode = 1)中生成两个时钟...
扫描测试的第一步是通过扫描移位 (shift)操作将设计中的时序单元设置为期 望的值,这个过程所需的时钟数就是内部最长的扫描链长度.这个过程 SE=1,电路工作在 扫描移动测试状态. 第二步是施加激励并抓取响应(capture).这个过程 SE=0,电路工作在正常的功能状 态. 第三步是移出抓取的电路组合部分的响应.这个过程...
dftcgen连接的是集成门控的TE端,该信号在scan shift阶段保证有效,scan capture阶段由测试点控制打开/关闭,可有效测试门控本身及支持stuck-at ATPG的ramsequential向量生成。 dft_mcp_hold可以强制关闭门控以在at-speed ATPG的时候阻止multicycle paths带来的X-pollution。
DFT与function的constraint相似，时钟与function可能有所差异，切换可能通过tm译码，数据datapath有区别，但总体constraint相似。在timing上，ATSPEED与function类似，slow shift和capture涉及较慢时钟，通常不会引起太多setup问题，可能需要额外hold时间调整。function包含bist、bscan等模式切换，约束时无需区分多种...
在测试模式下，动态功耗可能远高于功能模式，主要由四个因素造成：测试功耗与逻辑翻转率相关，测试模式下并行运行的模块数量增加，跳变数成倍增长；高速测试和并行测试方式导致功耗激增；DFT逻辑在正常模式下处于关闭状态，但在测试时持续工作，增加动态功耗；扫描测试中，shift和capture操作引起不必要的节点翻转...
它由两个触发器(capture/scan FF,update FF)和两个二选一选择器组成。两个触发器分别由ClockDR和updateDR两个时钟信号驱动,两个选择器由ShiftDR和Mode两个控制信号控制,它们相互配合能完成scan、capture、update等操作。 🔧【JTAG】 全称为Joint Test Action Group(联合测试行动小组),最初是为了解决芯片测试方法...
2)shift mode和capture mode下,test mode signal一直有效; 设计流程: 1)将选择到的storage elements转变为scan cell; 2)将这些cell,stitching为一个scan chains; 执行流程: 1)switch到shift mode,将stimulus输入到scan cell中; 2)switch到capture mode,输入clock,capture value; ...
capture，shift是scan-chain D Filp-Flop的两种工作模式，func好像是function clock，也就是正常工作模式...
由于wrapper cell没有了状态保持循环,因此在需要状态保持时会保持在shift模式以阻止wrapper cell捕获值。 在内部测试模式下,shift和capture行为如下,当capture时,输入的wrapper chain会保持在shift模式以阻塞外部值输入core。 在外部测试模式下,shift和capture行为如下,当capture时,输出的wrapper chain会保持在shift模式以阻...