capture，shift是scan-chain D Filp-Flop的两种工作模式，func好像是function clock，也就是正常工作模式...
(4) 扫描测试中,在shift和capture时,会导致 CUT 发生一些不必要的翻转。 DFT低功耗设计除了解决上述问题,同时还可以降低IR drop。若IR drop太大,则会导致芯片测试驱动能力不足,以至逻辑计算出错,很容易发生漏检和误检,导致芯片良率和成品率降低。 图1 高测试功耗芯片示例 3 常见的DFT低功耗设计介绍 如今,低功耗...
但在shift阶段(Shift Enable= 1),scan clock在 OCC 的输出端propagate。在capture阶段(Shift Enable = 0),移位寄存器开始shift“1”并启用Clock Gate,以根据test type来允许单脉冲或双脉冲。OCC 在stuck-at test(At-speed Mode = 0)中生成一个时钟脉冲,在at-speed test(At-speed Mode = 1)中生成两个时钟...
DFT与function的constraint相似，时钟与function可能有所差异，切换可能通过tm译码，数据datapath有区别，但总体constraint相似。在timing上，ATSPEED与function类似，slow shift和capture涉及较慢时钟，通常不会引起太多setup问题，可能需要额外hold时间调整。function包含bist、bscan等模式切换，约束时无需区分多种模...
在测试模式下，动态功耗可能远高于功能模式，主要由四个因素造成：测试功耗与逻辑翻转率相关，测试模式下并行运行的模块数量增加，跳变数成倍增长；高速测试和并行测试方式导致功耗激增；DFT逻辑在正常模式下处于关闭状态，但在测试时持续工作，增加动态功耗；扫描测试中，shift和capture操作引起不必要的节点翻转...
指令寄存器的主要作用是存储TDI输入进的指令,并将指令数据提供给指令解码器生成控制JTAG测试模式的使能信号,当Shift_IR = 1时,数据从TDI传输进指令寄存器中,这个触发器由TAP控制器发出的ClockIR信号提供时钟。数据从TDI传输进Scan FF(第二行寄存器),之后更新到Update FF(第一行寄存器)里,指令解码器收到的指令发生更...
32.扫描寄存器链测试过程主要有移位(shift)阶段和捕获(capture)阶段。在移位阶段时,扫描使能信号端提供信号1(即scan_enable=1),从寄存器的扫描输入端si移入相应的数据,通过整条寄存器链路移位到特定位置;在捕获阶段,扫描使能信号端提供信号0(即scan_enable=0),寄存器从数据输入端d获取数据。在相关技术的低功耗设计中...
由于scan cell中有两个输入,因此要加入一个多路选择器使得scan cell在两种不同模式下工作:正常/捕获(capture)模式和移位(shift)模式。(用中文写出来这些,就能理解外企的同事们为什么日常交流都是中英文混杂了...) 测试向量是由SI输入的 在正常/capture模式下,选择数据输入来传送到输出。在移位模式下,选择扫描输入...
在时钟前或时钟后设置，实际上是指在所有时钟周期内进行操作，而不仅仅是capture时钟。在shiftout阶段，即探测过程，strobe before clk方式先进行探测，然后测一条scan中最后一个reg/Q端口链接的外部数据，再shift一次，重复测量过程。此设置对确保数据稳定性和准确度至关重要。最后，test_default_strobe_...
实现芯片验证。同时，io测试与控制芯片状态也是jtag的主要功能。tap控制器是一个16位有限状态机，负责控制测试流程中的每个环节，由tms在时钟上升沿触发，进行jtag控制。需要注意的是，bscan链中capture和shift时钟为同一时钟源，而jtag_tck由dft工程师控制，如果cell的cp源为jtag_tck，则该时钟不上链。