型号 HUSTEC-CV-1200 可测参数: Ciss/Coss/Crss/Rg MOS管结电容测试可测器件: IGBT,二极管,氮化镓、碳化硅 MOSFET 等测试频率:1MHz测试电压范围:Vds 0~1200V,Vgs ±25V信号电压范围:1mV~1000mVRg 范围:≤300Ω测试精度:0.01pf华科智源栅极电阻/栅极电容测试仪特点:1,测试速度快。2,可点测和扫描曲线。3,...
华科智源结电容测试仪,可以测试MOS管,IGBT,SIC器件的栅电阻和栅电容,包含Ciss 输入电容 Coss 输出电容 Crss 反向电容,Rg等参数,可以单点测试,也可以扫描测试曲线; 品: 华科智源 名称: 栅电阻测试仪 型号: HUSTEC-CV-1200 用途: 测试MOS管结电容,Ciss 输入电容 Coss 输出电容 Crss 反向电容,Rg等参数 可测参数...
第三代半导体器件测试设备 半导体特性曲线测试仪IV扫描仪 半导体参数测试系统cv+iv特性曲线扫描仪公司介绍主营产品 武汉普赛斯仪表有限公司是武汉普赛斯电子技术有限公司的全资子公司,一直专注于半导体的性能测试仪表的开发、生产与销售,致力于满足半导体领域从材料、晶圆到器件测试用科学仪器的国产替代需求。 基于普赛斯电子领...
半导体参数分析仪_IV+CV一键测_支持远程指令控制 ¥ 1000.00 LIV光电特性测试脉冲恒流源 PL202型窄脉冲电流源 ¥ 1000.00 半导体参数CV测试系统 功率半导体器件C-V测试仪器 ¥ 1000.00 高精度电性能表征国产电流源_IV曲线扫描精密源表 ¥ 1000.00 半导体分立器件iv+cv测试仪电性能i-v曲线扫描仪 ¥ ...
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高分辨率传感器:荷重位移曲线仪配备高精度荷重传感器和位移传感器,能够精确测量材料在不同荷重下的位移变化,确保测试数据的准确性。 细微变化检测:设备能够检测材料在微小荷重变化下的位移响应,适用于高精度测试需求,如微电子元件、薄膜材料等的力学性能测试。
电机大扭力测试设备 马达大扭力测试设备 曲线马达扭力测试设备 本厂家的SGDN系列的电机大扭力测试设备用于检测各种电机、减速机输出的扭矩、转速、功率的高精度测试设备。该款电机大扭力测试设备并广泛应用于发动机、内燃机、电动机、风机、水泵、齿轮箱、阀门、轴承检测台等各种不同旋转扭矩检测的工业环境。我司的电机大...
电流测试范围 1pA-100A 是否定制夹具 是 接口 USB,LAN 可售卖地 全国 价格说明 价格:商品在爱采购的展示标价,具体的成交价格可能因商品参加活动等情况发生变化,也可能随着购买数量不同或所选规格不同而发生变化,如用户与商家线下达成协议,以线下协议的结算价格为准,如用户在爱采购上完成线上购买,则最终以订单...
华科智源cv曲线测试仪/设备,可以测试MOS管,IGBT,SIC器件的栅极电阻和栅极电容,包含Ciss 输入电容 Coss 输出电容 Crss 反向电容,Rg等参数,可以单点测试,也可以扫描测试曲线; 详细介绍 华科智源cv曲线测试仪/设备,可以测试MOS管,IGBT,SIC器件的栅极电阻和栅极电容,包含Ciss 输入电容 Coss 输出电容 Crss 反向电容,Rg...
高分辨率传感器:荷重位移曲线仪配备高精度荷重传感器和位移传感器,能够精确测量材料在不同荷重下的位移变化,确保测试数据的准确性。 细微变化检测:设备能够检测材料在微小荷重变化下的位移响应,适用于高精度测试需求,如微电子元件、薄膜材料等的力学性能测试。