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电容电压(C-V)性测试仪是测试频率为1MHz的数字式电容测试仪器。用于测量半导体器件PN结势垒在不同偏压下的电容量,也可测试其它电容。 仪器有较的分辨率,电容量是四位读数,可分辨到0.001pF,偏置电压分辨率为0.01V,漏电小分辨率为0.01μA或0.1μA(可选)。 该测试仪器性能稳定可靠,能齐,度,操作简单,适用于元件厂...
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仪器量贩主要致力于“半导体器件C-V特性测试仪 CV2000 C-V2000”的生产销售。多年的“半导体器件C-V特性测试仪 CV2000 C-V2000”生产与销售的经验,与各行业新老用户建立了稳定的合作关系,我公司经营的产品名称深受广大用户信赖。欢迎来电咨询或前来选购
灵活的多频测试信号,从10kHz到10MHz 既适合新款4200-SCS系统,也可用于为已有的系统升级 可选的附件包用于连接流行的分析探针 4200-CVU集成的C-V选件是吉时利不断增长的可选的集成测试方案产品线的最新成员,用于4200半导体特性分析系统。这款新仪器直接集成到4200的一个插槽上,允许用户将电容和电导测量功能集成到已有...
无-源测量单元:4个源测量单元 I-V测量最大电流: 100mA。 I-V测量最小分辨率:最小分辨率为0.1fA。 I-V测量最大电压:200V。 C-V测量:扫频范围1KHz-10MHz,偏置电压±60V。
电化学C-V仪(Electrochemical c - v) 所在单位: 长春理工大学 品牌/型号: 英国伯乐公司,10705 所在地区: 吉林省 仪器说明: 我们目前尚未与长春理工大学提供的该仪器进行进一步的对接。如果您需要使用该仪器,建议您联系相关单位,以确定是否可以对外开放。您也可以通过 点击此处 提交需求,委托我们帮您联系相关单位。
半导体参数CV测试系统 功率半导体器件C-V测试仪器 ¥ 1000.00 高精度电性能表征国产电流源_IV曲线扫描精密源表 ¥ 1000.00 半导体分立器件iv+cv测试仪电性能i-v曲线扫描仪 ¥ 1000.00 压力传感器电性能测试SMU源表 高精密数字源表IV曲线扫描 ¥ 1000.00 半导体特性曲线分析仪_分立器件测试仪器_IV曲线扫描...
国产Ceyear 1466-V系列信号发生器是一款面向微波毫米波尖端测试的通用测试仪器,频率范围覆盖宽、射频调制带宽大、信号频谱纯度高,具有高准确度和大动态范围的功率输出,以及出色的矢量调制精度和ACPR性能,搭配单机双射频通道和多机级联的设计。模拟调制、数字调制、衰落模拟、AWGN等丰富的内置功能让日常测试更加便捷。配合模...
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