DAP由DP(debug port)和AP(access port)组件。DP负责接收外部的JTAG或SW数据,然后转化为对AP的访问,而对AP的访问,是可以发起memory-mapped的访问。因此就可以对内部的资源进行访问。 DP一般有以下种类: A Serial Wire Debug Port (SW-DP). A JTAG Debug Port (JTAG-DP). A Serial Wire JTAG Debug Port (S...
JTAG-AP: 对JTAG设备的访问。这个是兼容以前较早的ARM处理器,如ARM9。这些较早的处理器内部是用JTAG来调试的。但是现在的ARM处理器,已经不用这种方式,统一用memory-mapped方式进行调试。 目前的ARM soc中,一般至少会包括一个DAP。而一个DAP可以包括1-256个AP(access port),AP受DP的控制。只有对AP的访问,才可...
包括了一个DP,和3个AP,依次是AHB-AP,APB-AP,JTAG-AP。 DP通过JTAG或者SW管脚,连接外部的debugger,和外部debugger进行通信。 DP接收到外部debugger发送的JTAG或SW数据,转化为对内部AP的访问。经过decoder模块,判断是对哪一个AP进行访问,然后将访问信息发送给对应的AP。AP接收到DP的访问后,转化为对应的总线访问,去...
DP通过JTAG或者SW管脚,连接外部的debugger,和外部debugger进行通信。 DP接收到外部debugger发送的JTAG或SW数据,转化为对内部AP的访问。经过decoder模块,判断是对哪一个AP进行访问,然后将访问信息发送给对应的AP。AP接收到DP的访问后,转化为对应的总线访问,去访问内部资源。然后将访问的信息,才回送给DP,DP再通过JTAG或S...
•JTAG debug port(JTAG-DP) •ROMtable DAP主要是由DP和AP组件。DP负责接收外部的JTAG或SW数据,然后转化为对AP的访问,而对AP的访问,是可以发起memory-mapped的访问。因此就可以对内部的资源进行访问。 如上图:DAP包括了三个AP • APB-AP:对挂接到debug APB总线上的内部调试设备的访问 ...
serial wire JTAG debug port(SWJ-DP) JTAG debug port(JTAG-DP) ROM table DAP主要是由DP和AP组件。DP负责接收外部的JTAG或SW数据,然后转化为对AP的访问,而对AP的访问,是可以发起memory-mapped的访问。因此就可以对内部的资源进行访问。 如上图:
JTAG接口有四个必须引脚TCK,TMS,TDI和TDO,以及一个可选的复位nTRST。 JTAG-DP和SW-DP还需要单独的上电复位nPOTRST。 SWD 外部SWD接口需要两个引脚: 双向SWDIO信号 时钟SWCLK,可以从设备输入或输出 2.2 APB-AP 2.3 APB-MUX DAP-Lite的APB多路复用器(APB-Mux)使外部工具和系统可以访问调试APB。 APB-Mux将多个...
SWJ-DP和外部的sw或jtag通信,然后和DAPBUS通信。实现对各个AP的访问。然后各个AP再对片内内部资源进行访问。 SWJ-DP包括两个DP,一个是SW-DP,一个是JTAG-DP。SW-DP负责和外部的sw通信,JTAG-DP负责与外部的jtag通信。 下图是DAP的内部结构,包含一个DP,5个AP。
JTAG debug port(JTAG-DP) ROM table DAP主要是由DP和AP组件。DP负责接收外部的JTAG或SW数据,然后转化为对AP的访问,而对AP的访问,是可以发起memory-mapped的访问。因此就可以对内部的资源进行访问。 如上图: DAP包括了三个AP APB-AP: 对挂接到debug APB总线上的内部调试设备的访问 ...
DP调试端口,往主机端对接,对接调试器。 AP访问端口,往目标端对接,对接coresight组件。 目前SOC内部已经实现了DP+AP(晶体管级别的实现),当然还需要外围的实现。一般有几种方式: 1.JTAG方式。 2.Arm的SWD方式。 Arm竞争力强,成本低。 Arm SWD 三根线普通,很便宜。