高解析度FEB测量装置CG6300(HITACHI CD-SEM) 打印 CG6300提供更高的解析度、测量再现性以及高画质 高解析度FEB测量装置(CD-SEM)CG6300通过电子光学系统的全新设计提高了解析度,并进一步提高了测量可重复性和图像画质。 电子显微镜线圈能够选择从对象材料反射出的二次电子和背向散射电子,实现BEOL制程*1的Via-in-...
这台二手HITACHI CG6300高解析度FEB测量装置，不仅在国外保存得完好无损，更因其卓越的性能和稳定的测量精度，在全球半导体设备市场中占有一席之地。设备所具备的高解析度测量技术，可以精确捕捉到微小的电子束变化，为半导体制造过程提供了准确的数据支持。无论是研发阶段的材料分析，还是生产阶段的质量控制，它都能发挥...
发展成为一个塑造未来的公司。 1 1 /1 Play / Pause 日立高新技术产品解决方案 产品活动信息 按产品搜索 联系我们 有关产品和服务的查询 支持信息 推出会员服务 活动 新活动 展览 展览会 Mar 11, 2025 - Mar 13, 2025 2025慕尼黑上海光博会【2025年3月11日-13日】 ...