BLS-I/BCT-400型号少子寿命测试仪可以量测P型或者N型单晶或者多晶硅块少子寿命,不需要表面钝化处理就可以量测少子寿命。少子寿命的量测对于监控硅块在长晶过程引入的缺陷或者污染物造成的缺陷有着重要的意义。通过使用少子寿命测试仪BCT-400可以直接判断硅块的质量好坏。BLS-I可以量测表面不平的硅块样品。而不同于...
型号 BCT-400 少子寿命测量仪BCT-400是基于涡流传感器和红外光致光电导方法直接测量单晶或者多晶硅棒体少子寿命的设备,具有瞬态和准稳态两种测量模式。该设备可探测3mm 深度范围少子寿命,并能输出不同载流子注入水平下的少子寿命值,可实现低电阻率硅单晶少子寿命测量,并能通过软件端光强偏置实现单晶缺陷密度计算。BCT...
Sinton 少子寿命测量仪 BCT-400单晶多晶硅锭性能测试价格 ¥ 350000.00 起订数 1套起批 发货地 上海 咨询底价 产品服务 热门商品 亮度探测器 价格面议 IV21 太阳模拟器/IV测试仪 价格面议 嵌入式膜厚测量仪 价格面议 光量子/光合有效辐射 探测器 价格面议 光伏电池板检测显微镜 价格面议 半导体行业...
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BLS-I/BCT-400: 优越的硅锭测试仪器 简单、精确、无接触式地测量初长成态或已加工成型硅棒或硅锭的真实体寿命。遵从SEMI标准PV-13。 BLS-I的减震收缩垫能够很好地适应不同的硅锭曲率,所以能够测量各种长成态或已加工成型的硅锭表面。 产品概述 BLS-I和BCT-400测量系统可以直接测量单晶或多晶硅锭或硅砖的...
BCT400电阻率测试原理基于四线法测量电阻的方法。四线法是一种准确度较高的电阻测量方法,它通过分别引入两组电流和电压线路,可消除测试线路的电阻对测量结果的影响。 BCT400电阻率测试仪采用了四线法的原理,它由一个电流线路和一个电压线路组成。在测试过程中,电流线路通过被测材料,产生一个已知大小的电流,而电压...
Sinton BCT-400/BLS-I少子寿命测量仪套件延长灯座 【湾边贸易】原装进口 Sinton BCT-400少子寿命测量仪 BCT-400测量系统不需要做表面钝化就能直接测量单晶和多晶硅（锭或块）的少子寿命.是基于涡流传感器和红外光致光电导方法直接测量单晶或者多晶硅棒体少子寿命的设备，具有瞬态和准稳态两种测量模式。该设备可探测3mm ...
BCT‐400 SintonInstrumentsOutlineutline •Lifetimetheory •BCT‐400hardwareCT400hardware •BCT‐400software Lifetime原理ifetime原理载子寿命,τ,,子寿命,τ,, —过剩载流子的平均复合时间 决定扩散长度D决定扩散长度,, —高效率需要高寿命 寿命量测的目的命量测的目的 ...
二、Sinton Instruments产品概览:1、Sinton BCT-400少子寿命测量仪Sinton BCT-400测量系统不需要做表面钝化就能直接测量单晶和多晶硅(锭或块)的少子寿命.Sinton BCT-400是基于涡流传感器和红外光致光电导方法直接测量单晶或者多晶硅棒体少子寿命的设备,具有瞬态和准稳态两种测量模式。Sinton设备可探测3mm 深度范围少子寿命...