bct-400寿命仪 更新时间:2024年12月12日 综合排序 人气排序 价格 - 确定 所有地区 实力供应商 已核验企业 在线交易 安心购 查看详情 ￥35.00万/套 上海 Sinton 少子寿命测量仪 BCT-400单晶多晶硅锭性能测试 少子 上海瞬渺光电技术有限公司 4年 查看详情 ￥1.17万/件 上海 焕尧推荐美国BLS-I/BCT-400少子...
bct-400信号线是一种高性能信号电缆,品牌为【银顺】,可选芯数2-400芯,满足多种传输需求。线芯采用裸铜线,传输稳定可靠。绝缘厚度0.6mm,护套为聚氨酯pur材质,厚度14-15mm,耐磨耐损。该电缆可加工定制,使用温度范围36-59℃,电压235V,适应多种环境。截面4.3-400mm²,外径9.5-78.1mm,规格齐全。现在店内正好有...
BLS-I和BCT-400测量系统可以直接测量单晶或多晶硅锭或硅砖的寿命,而无需进行表面钝化。由于寿命测试是表征晶体生长和杂质缺陷最灵敏的技术之一,使用该系列产品,您可以在晶体长成后立刻对晶硅质量进行评估。 BLS-I设备应用灵活,能够测量各种各样的表面(150 mm直径的曲面至平面)。BCT-400设备更加小巧,专为测量平面设计...
BCT400电阻率测试原理基于四线法测量电阻的方法。四线法是一种准确度较高的电阻测量方法,它通过分别引入两组电流和电压线路,可消除测试线路的电阻对测量结果的影响。 BCT400电阻率测试仪采用了四线法的原理,它由一个电流线路和一个电压线路组成。在测试过程中,电流线路通过被测材料,产生一个已知大小的电流,而电压...
量测板号线BCT 400 softwareCT‐400 software 4、量测结果 Lifetime at Spec MCD(µs),瞬态,量测寿命与估计的体寿命相同, 、准稳态,量测ifetime at Spec.MCD(µs),瞬态,量测寿命与估计的体寿命相同, 、准稳态,量测寿命小于估计的体寿命,
Sinton少子寿命测试仪 BCT400/BLS-1 不用接触就可以简单准确地测量原生或成型硅块的真实寿命。与半导体工业标准PV(光伏)-13相符合。 请联系我们 优势规格下载 操作简单、灵敏度高 BLS-I and BCT-400测量系统对于单晶硅或多晶硅(硅锭或硅块)不需要进行表面钝化就可以进行寿命测量。因为寿命测量是描述生长特征和污染...
Sinton少子寿命测试仪-WCT-120MX单晶多晶硅片性能测试 ¥ 360000.00 商品描述 价格说明 联系我们 咨询底价 品牌: Sinton 测量原理: QSSPC(准稳态光电导) 电阻率测试范围: 0.5–300 Ohm-cm 少子寿命测量范围: 100 ns-10 ms 测试模式: QSSPC,瞬态,寿命归一化分析 载流子注入范围: 1013-1016cm-3 ...
BLS-I and BCT-400测量系统对于单晶硅或多晶硅(硅锭或硅块)不需要进行表面钝化就可以进行寿命测量。因为寿命测量是描述生长特征和污染缺陷灵敏度的技术,这些工具允许你评估硅生长后的质量。 性能* 非接触方式量测真正意义上的硅块少子寿命,符合SEMI的PV13标准;相比业界其他少子寿命测试仪BLS-I/BCT系列是性能更*的...
BLS-I/BCT-400型号少子寿命测试仪可以量测P型或者N型单晶或者多晶硅块少子寿命,不需要表面钝化处理就可以量测少子寿命。少子寿命的量测对于监控硅块在长晶过程引入的缺陷或者污染物造成的缺陷有着重要的意义。通过使用少子寿命测试仪BCT-400可以直接判断硅块的质量好坏。BLS-I可以量测表面不平的硅块样品。而不同于...
BLS-I/BCT-400少子寿命测试仪●非接触方式量测真正意义上的硅块少子寿命●涡电流法量测技术符合SEMIZX的PV13标准●相比业界其他少子寿命测试仪BLS-I/BCT系列是性能更优越的少子寿命测试仪●Wafer厂品质监控必不可缺的量测设备,拥有广泛的客户群。 详细介绍 ...