01扫描电子显微镜(SEM)SEM (Scanning Electron Microscope) - 扫描电子显微镜:SEM是一种利用电子束扫描样品表面并产生图像的显微镜。通过聚焦的电子束和样品之间的相互作用,SEM能够生成高分辨率的表面拓扑图像,并提供有关样品形貌、成分和结构的信息。SEM是利用细聚焦电子束在样品表面扫描时激发出来的各种物理信号来调制...
AFM是通过探测试样表面与一微型力敏感元件间极弱的原子间相互作用力，对物质表面结构与特性进行研究。把一对对微弱力反应极为灵敏的微悬臂的一端固定在试样上，另端针尖靠近试样并通过它们之间的相互作用使微悬臂产生变形或改变运动状态。利用传感器检测这些变化来获得表面形貌结构信息及表面粗糙度信息。AFM分为接触式、...
对材料进行显微分析可以得到其组织结构并揭示其基本性质与规律,是材料测试技术的重要环节。对于各类显微分析设备,如SEM,TEM,AFM,STM,材料届朋友们肯定不陌生。近日小编发现了几幅电镜动画,被惊艳到,原来枯燥无味的电镜可以变得这么生动,闲言少叙,下面就和大家一起来分享。
9.透射电子显微技术TEM10.扫描电子显微技术SEM 11.原子力显微镜AFM12.扫描隧道显微镜STM 13.原子吸收光谱...
利用传感器检测这些变化来获得表面形貌结构信息及表面粗糙度信息。 AFM分为接触式、非接触式和轻敲式 原子力显微镜的优点: 1)AFM提供真正的三维表面图。 2)不会对样品造成伤害。 3)更为广泛的适用性。 实例图片: 来自:栓牛>《SEM》
扫描电子显微镜(SEM) SEM是利用细聚焦电子束在样品表面扫描时激发出来的各种物理信号来调制成像的。 SEM是采用逐点成像的方法,把样品表面不同的特征,按顺序和比例转化为图像,如二次电子像。 背散射电子像等 扫描电镜的优点是: (1)有较高的放大倍数;
SEM、TEM、XRD、AES、STM、AFM的区别主要是名称不同、工作原理不同、作用不同、 一、名称不同 1、SEM,英文全称:Scanningelectronmicroscope,中文称:扫描电子显微镜。 2、TEM,英文全称:TransmissionElectronMicroscope,中文称:透射电子显微镜。 3、XRD,英文全称:Diffractionofx-rays,中文称:X射线衍射。
原子力显微镜(AFM) AFM通过检测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。 将一对微弱力极端敏感的微悬臂一端固定,另一端的针尖接近样品,通过其相互作用,使得微悬臂发生形变或运动状态发生变化。 利用传感器检测这些变化来获得表面形貌结构信息及表面粗糙度信息。
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01.扫描电子显微镜(SEM) SEM是利用细聚焦电子束在样品表面扫描时激发出来的各种物理信号来调制成像的。 SEM是采用逐点成像的方法,把样品表面不同的特征,按顺序和比例转化为图像,如二次电子像 背散射电子像等 扫描电镜的优点是: (1)有较高的放大倍数; ...