AEC-Q100-003 机械模式静电放电测试 AEC-Q100-004 集成电路闩锁效应测试 AEC-Q100-005 可写可擦除的永久性记忆的耐久性、数据保持及工作寿命的测试 AEC-Q100-006 热电效应引起的寄生闸极漏电流测试 AEC-Q100-007 故障仿真和测试等级 AEC-Q100-008 早期寿命失效率(ELFR) AEC-Q100-009 电分配的评估 AEC-Q100-0...
【要求】: 该规范的目的是建立一个标准,用以描述基于一套最低认证要求的集成电路工作温度等级,为了达到零缺陷的目标,需要完成零缺陷项目的基本内容都可以在AEC-Q004查到 0等级:环境工作温度范围-40℃～150℃ 1等级:环境工作温度范围-40℃～125℃ 2等级:环境工作温度范围-40℃～105℃ 3等级:环境工作温度范围-40...
AEC Q100-004 REV-D IC LATCH-UP TEST 在AEC Q100认证的IC器件上进行的所有栓锁测试都应符合最新版本的JEDEC EIA/JESD78规范，并具有以下说明和要求(后面列出的节号对应于JEDEC规范)。执行JEDEC - II等级认证 所有AEC Q100-004认证测试都应在被测器件的最高环境工作温度(JEDEC - II类)下进行。闩锁测试流程介...
AEC - Q100-004 - REV-D August 7, 2012 Automotive Electronics Council Component Technical Committee ATTACHMENT 4 AEC - Q100-004 REV-D IC LATCH-UP TEST AEC - Q100-004 - REV-D August 7, 2012 Automotive Electronics Council Component Technical Committee Acknowledgment Any document involving a ...
AEC-Q100-004-REV-C October8,1998 ComponentTechnicalCommittee AutomotiveElectronicsCouncil ATTACHMENT4 AEC-Q100-004REV-C ICLATCH-UPTEST AEC-Q100-004-REV-C October8,1998 ComponentTechnicalCommittee AutomotiveElectronicsCouncil Acknowledgment Anydocumentinvolvingacomplextechnologybringstogetherexperienceandskillsfromman...
AEC_Q100-004_rev_C AEC - Q100-004 - REV-C October 8, 1998 Automotive Electronics Council Component Technical Committee ATTACHMENT 4 AEC - Q100-004 REV-C IC LATCH-UP TEST
AEC - Q100-004 - REV-D August 7, 2012 Automotive Electronics Council Component Technical Committee ATTACHMENT 4 AEC - Q100-004 REV-D IC LATCH-UP TEST AEC - Q100-004 - REV-D August 7, 2012 Automotive Electronics Council Component Technical Committee Acknowledgment Any document involving a ...
Q100-004: IC 闩锁效应测试 Q100-005:非易失性存储器编程/擦除耐久性、数据保留和工作寿命测试 Q100-007: 故障模拟和测试分级 Q100-008:早期寿命失败率 Q100-009:配电评估 Q100-010: 焊球剪切试验 Q100-011: 带电器件模型 (CDM) 静电放电测试(新) ...
AEC-Q101-004 同步性测试方法 AEC-Q101-005 带电器件模式的静电放电测试 AEC-Q101-006 12V系统灵敏功率设备的短路可靠性描述 AEC-Q102 车用分立光电半导体元器件可靠性验证测试 AEC-Q102-001 露水测试 AEC-Q102-002 电路板柔性测试 AEC-Q102-003 光电多芯片模块 (OE-MCM) ...
E4 Latch-Up LU 6 1 AEC-Q100-004 E5 Electrical Distributions ED 30 3 AEC Q100-009 AEC Q003 E6 Fault Grading FG - - AEC-Q100-007 E7 Characterization CHAR - - AEC-Q003 E9 Electromagnetic Compatibility EMC 1 1 SAE J1752/3-辐射 E10 Short Circuit Characterization SC 10 3 AEC-Q100-012 ...