汽⻋电子委员会元件技术委员会AEC - Q100-002 REV-EAEC - Q100-002 - REV-E⼈体模型静电放电测试附件22013 年 8 ⽉ 20 日Machine Translated by Google
ESD机理与测试_AEC-Q100-002 ESD(electrostatic discharge)：摩擦生电使电荷聚集起来，当聚集有电荷的物体接触器件时，通过器件的管脚与地之间形成放电通道，当聚集的电荷足够多时，这样的快速放电，会形成很大的电流（几十安级），对微安或毫安级的集成电路来说，或造成严重损伤。损伤的可能情况如下：1，由于介质击穿...
➤ 附上认证规范AEC-Q100-001 邦线切应力测试;AEC-Q100-002 人体模式静电放电测试;AEC-Q100-004 集成电路闩锁效应测试;AEC-Q100-005 可写可擦除的永久性记忆的耐久性数据保持及工作寿命的测试;AEC-Q100-007 故障仿真和测试等级;AEC-Q100-008 早期寿命失效率(ELFR);AEC-Q100-009 电分配的评估;AEC-Q100-010...
Statistical Bin/Yield Analysis编号为F2，参考文件为AEC Q002，是AEC系列文件的第二个附件。附件需求：供应商根据测试方法确定样品数量和接受标准。如果对给定的零件不能进行这些测试内容，供应商必须提供证明。如果供应商要对PAT和SBA方法进行更新并应用，比如要符合此项指导方针的原则。让我们来看一下AEC Q002文件：...
AEC-Q100-002 人体模式静电放电测试 AEC-Q100-003 机械模式静电放电测试 AEC-Q100-004 集成电路闩锁效应测试 AEC-Q100-005 可写可擦除的永久性记忆的耐久性、数据保持及工作寿命的测试 AEC-Q100-006 热电效应引起的寄生闸极漏电流测试 AEC-Q100-007 故障仿真和测试等级 ...
举个例子,从下面这个英飞凌的HSD芯片手册里面我们就能看到,ESD测试依据了AEC-Q100-002和011,短路测试用到了012。 做过汽车电子设计的小伙伴们应该都了解,温度在汽车电子设计中非常关键,所以选芯片时,温度范围这个参数就非常关键。 AEC-Q100从REVG升级到H版后,删掉了Grade4,也就是不能用于车载应用的0度～+70度温度...
Q100-002: 人体模型静电放电测试 Q100-004: IC 闩锁效应测试 Q100-005:非易失性存储器编程/擦除耐久性、数据保留和工作寿命测试 Q100-007: 故障模拟和测试分级 Q100-008:早期寿命失败率 Q100-009:配电评估 Q100-010: 焊球剪切试验 Q100-011: 带电器件模型 (CDM) 静电放电测试(新) ...
AEC-Q102-002 电路板柔性测试 AEC-Q102-003 光电多芯片模块 (OE-MCM) AEC-Q103 汽车传感器应力测试的认证规范 AEC-Q103-002 微机电系统压力传感器器件应力测试 AEC-Q103-003 MEMS麦克风器件应力测试 AEC-Q104 车用多芯片模块可靠性测试 AEC-Q200 被动组件应力测试(Stress Test))的认证规范(无源器件) ...
AEC - Q1 00-002 - REV-D July 18, 2003 Component Technical CommitteeAutomotive Electronics Council ATTACHMENT 2 AEC - Q100-002 REV-D HUMAN BODY MODEL ELECTROSTATIC DISCHARGE TEST
AEC-Q100-002 Rev-E: Human Body Model (HBM) Electrostatic Discharge Test人体模式静电放电测试。 AEC-Q100-003 Rev-E: Machine Model (MM) Electrostatic Discharge Test,[Decommissioned]机械模式静电放电测试,已废止,因为JEDEC里面也给淘汰了。 AEC-Q100-004 Rev-D: IC Latch-Up Test集成电路闩锁效应测试。