ESD机理与测试_AEC-Q100-002 ESD(electrostatic discharge)：摩擦生电使电荷聚集起来，当聚集有电荷的物体接触器件时，通过器件的管脚与地之间形成放电通道，当聚集的电荷足够多时，这样的快速放电，会形成很大的电流（几十安级），对微安或毫安级的集成电路来说，或造成严重损伤。损伤的可能情况如下：1，由于介质击穿...
AEC_Q100-002E 人体静电模型放电测试.pdf,AEC - Q100-002 - REV-E August 20, 2013 Automotive Electronics Council Component Technical Committee ATTACHMENT 2 AEC - Q100-002 REV-E HUMAN BODY MODEL ELECTROSTATIC DISCHARGE TEST AEC - Q100-002 - REV-E August 20, 2
1.1 试验信息 样品数量:1个批次;共 12 颗待测芯片 参考方法:AEC-Q100-002 脉冲次数:1 次 脉冲间隔:0.3 秒 测试电压:±500V/±1000V/±2000V 通过等级分类:通过等级H1C (±2000V) 测试脉宽:不适用 测试确认:芯片功能/性能测试(试验前后在室温和高温进行电测。)/I-V曲线对比 合格判据:测试前后电流-电压曲...
汽⻋电子委员会元件技术委员会AEC - Q100-002 REV-EAEC - Q100-002 - REV-E⼈体模型静电放电测试附件22013 年 8 ⽉ 20 日Machine Translated by Google
答:AEC-Q100 是一个顶级标准,然后“爆发”为许多具体、定义明确、承诺的子标准: Q100-001: 引线键合剪切试验 Q100-002: 人体模型静电放电测试 Q100-004: IC 闩锁效应测试 Q100-005:非易失性存储器编程/擦除耐久性、数据保留和工作寿命测试 Q100-007: 故障模拟和测试分级 ...
AEC-Q100-002 人体模式静电放电测试 AEC-Q100-003 机械模式静电放电测试 AEC-Q100-004 集成电路闩锁效应测试 AEC-Q100-005 可写可擦除的永久性记忆的耐久性、数据保持及工作寿命的测试 AEC-Q100-006 热电效应引起的寄生闸极漏电流测试 AEC-Q100-007 故障仿真和测试等级 ...
Mark A. Kelly Delphi Delco Electronics Systems AEC - Q100-002 - REV-D July 18, 2003 Automotive Electronics Council Component Technical Committee Change Notification The following summary details the changes incorporated into AEC-Q100-002 Rev-D: Section 3.5, steps d, e, j, and k: Added wording...
参考标准:AEC Q100-002; 目的:验证器件对人体静电的抵抗能力; 试验通过判断依据:测试前后电流-电压曲线在参考电流下电压的改变量不超过30%以及包络线失效范围不超过±10%,芯片验证完成后FT常、高温测试pass; 实验室能力范围:能满足大部分类型芯片的HBM需求,有MK2平台,可提供768个通道; ...
AEC-Q100标准包含多个子标准,具体如下: 1. AEC-Q100-001:总则。 此子标准为整个AEC-Q100标准体系奠定基础,明确了适用范围、定义、一般要求等关键内容。它规定了该标准所涵盖的半导体器件类型,包括但不限于集成电路、分立器件等,适用于汽车电子应用中使用的各类半导体元件 。 2. AEC-Q100-002:失效模式与效应分析(...
AEC-Q100-001: WIRE BOND SHEAR TEST -邦线剪切试验 AEC-Q100-002: HUMAN BODY MODEL (HBM) ELECTROSTATIC DISCHARGE (ESD) TEST -人体模型(HBM)静电放电试验 AEC-Q100-003: MACHINE MODEL (MM) ELECTROSTATIC DISCHARGE (ESD) TEST (DECOMMISSIONED) 机器模型静电放电试验(已取消) ...