AEC_Q001_Rev_D AEC - Q001 Rev-D December 9, 2011 Automotive Electronics Council Component Technical Committee GUIDELINES FOR PART AVERAGE TESTING
limit的设置可以采用静态或者动态的方法。静态limit是基于一定量的测试数据后设置,并且在相当长时间内是不做任何修改的。动态limit是基于静态limit,但是对不同的lot或者wafer会做动态调整。在设计修改,die shrink或者工艺该改变后必须对PAT limit(动态和静态)进行修改。 Appendix 2提供了一个guidance。 PAT limit的设置...
AEC-Q001 Rev-D 零件平均测试指南(12页) 资料介绍 GUIDELINES FOR PART AVERAGE TESTING 1. 范围 本指南提出了一种基于统计的方法,称为部件平均测试 (PAT),用于从按照 AEC-Q100 和 AEC-Q101 提供的半导体中去除具有异常特性(异常值)的部件。 PAT 中使用的测试限制是根据具有独特设计和处理的特定部件的电气测试...
AEC - Q001 Rev - D Guidelines for Part Average Testing零件平均测试指南.pdf,AEC - Q001 Rev-D December 9, 2011 Automotive Electronics Council Component Technical Committee GUIDELINES FOR PART AVERAGE TESTING AEC - Q001 Rev-D December 9, 2011 Automotive Ele