AEC_Q001_Rev_D AEC - Q001 Rev-D December 9, 2011 Automotive Electronics Council Component Technical Committee GUIDELINES FOR PART AVERAGE TESTING
1.1 Purpose This guideline is intended to provide a general method forremoving abnormal parts and thus improve the quality and reliability of parts suppliedper AEC-Q100 and AEC-Q101.PAT andAEC-Q002(Statistical Yield Analysis) are not intended to be a requirement. The exact methods applied may ...
AEC-Q001 Rev-D 零件平均测试指南(12页) 资料介绍 GUIDELINES FOR PART AVERAGE TESTING 1. 范围 本指南提出了一种基于统计的方法,称为部件平均测试 (PAT),用于从按照 AEC-Q100 和 AEC-Q101 提供的半导体中去除具有异常特性(异常值)的部件。 PAT 中使用的测试限制是根据具有独特设计和处理的特定部件的电气测试...
AEC - Q001 Rev - D Guidelines for Part Average Testing零件平均测试指南.pdf,AEC - Q001 Rev-D December 9, 2011 Automotive Electronics Council Component Technical Committee GUIDELINES FOR PART AVERAGE TESTING AEC - Q001 Rev-D December 9, 2011 Automotive Ele
AEC-Q200-006-Rev-A:终端强度(SMD)/剪切应力测试 AEC-Q200-007-Rev-A:浪涌电压测试 7.AEC-Q001Rev-D:零件平均测试指南(提供使用统计技术和扩展的操作条件来建立零件测试极限的指南;此方法可用于提供“已知好品”。)8.AEC-Q002Rev-B:统计良率分析指南(提供了使用统计技术检测和去除异常集成电路批次的指南)9...
AEC-Q001 Guidelines for Part Average Testing AEC-Q005 Pb-Free Test Requirements AEC-Q101-001 ESD (Human Body Model) AEC-Q101-003 Discrete Component Wirebond Shear Test AEC - Q101 - REV - D May 18, 2013 Page 2 of 40 Component Technical Committee Automotive Electronics Council AEC...
AEC-Q001 部件平均测试指南 AEC-Q005 无铅产品测试要求 AEC-Q006 使用铜(Cu)线链接部件的认证要求 AEC-Q101-001人体模型(HBM)静电放电(ESD)测试 AEC-Q101-003 绑线键合剪切试验 AEC-Q101-004 多种混合试验方法 •无钳位感应开关 •介质完整性 •破坏性物理分析 AEC-Q101-005带电器件模型(CDM)静电放电(...
AEC-Q001零件平均测试指南 AEC-Q005无铅测试要求 Page 5 of 21 AEC - Q101 - Rev – D1 September 6, 2013 汽車電子委員會 組件技術委員會 AEC-Q101-001 ESD(人体模型) AEC-Q101-003邦线切应力测试 AEC-Q101-004同步性测试方法 ?钳位感应开关 ...
(表面贴装元件)/切应力测试 Attachment 7 - AEC – Q200-007 - Voltage Surge Test 附录7-AEC-Q200-007电压浪涌测试 - AEC-Q005 Pb-Free Requirements AEC-Q005无铅测试要求 - AEC-Q200 REV D June 1, 2010Automotive Electronics CouncilComponent Technical Committee AEC-Q200 REV D June 1, 2010 ...
AEC Q001 REV D GUIDELINES FOR PART AVERAGE TESTING 1 适用范围 本指南提出了一种基于统计的方法,称为部件平均测试(PAT),用于从AEC-Q100和AEC-Q101提供的半导体中去除异常特性(异常值)的部件。PAT中使用的测试极限值是根据特定零件的特定设计和加工的电气测试结果样本建立的。每个零件设计及其相关工艺过程将会导致...