AEC - Q001 Rev - D Guidelines for Part Average Testing零件平均测试指南.pdf,AEC - Q001 Rev-D December 9, 2011 Automotive Electronics Council Component Technical Committee GUIDELINES FOR PART AVERAGE TESTING AEC - Q001 Rev-D December 9, 2011 Automotive Ele
1.1 Purpose This guideline is intended to provide a general method forremovingabnormalparts and thus improve the quality and reliability of parts suppliedper AEC-Q100 and AEC-Q101.PAT and AEC-Q002 (Statistical Yield Analysis) are not intended to be a requirement. The exactmethodsapplied may var...
AEC-Q001 Rev-D 零件平均测试指南(12页) 资料介绍 GUIDELINES FOR PART AVERAGE TESTING 1. 范围 本指南提出了一种基于统计的方法,称为部件平均测试 (PAT),用于从按照 AEC-Q100 和 AEC-Q101 提供的半导体中去除具有异常特性(异常值)的部件。 PAT 中使用的测试限制是根据具有独特设计和处理的特定部件的电气测试...
AEC_Q001_Rev_D AEC - Q001 Rev-D December 9, 2011 Automotive Electronics Council Component Technical Committee GUIDELINES FOR PART AVERAGE TESTING
AEC Q001 REV D GUIDELINES FOR PART AVERAGE TESTING 1 适用范围 本指南提出了一种基于统计的方法,称为部件平均测试(PAT),用于从AEC-Q100和AEC-Q101提供的半导体中去除异常特性(异常值)的部件。PAT中使用的测试极限值是根据特定零件的特定设计和加工的电气测试结果样本建立的。每个零件设计及其相关工艺过程将会导致...
基于失效机制对汽车领域应用中分立半导体器件的认证测试 AEC-Q101最新的版本是Rev_E,发布于2021年3月,文件比较新,当前网上很难找到公开的中文翻译版文档。此篇翻译和解读,就是基于官方公开的英文版本为基础。 (编者注:首先大家要明确半导体集成电路和分立半导体器件的区别。 AEC Q100是针对半导体集成电路,也就是把很多...
Q001零件平均测试指南AEC-Q005无铅测试要求AEC-Q101-001ESD(人体模型)AEC-Q101-003邦线切应力测试AEC-Q101-004同步性测试方法钳位感应开关電介质完整性破坏性物理分析AEC-Q101-005ESD(带电器件模型)AEC-Q101-006 12V其他QS-9000 ISO-TS-16949废止AEC-Q101-002:人体模式静电放电测试(廢止)JEDECHBMCDMESD定义AECQ...
AEC-Q001 部件平均测试指南 AEC-Q005 无铅产品测试要求 AEC-Q006 使用铜(Cu)线链接部件的认证要求 AEC-Q101-001 人体模型(HBM)静电放电(ESD)测试 AEC-Q101-003 绑线键合剪切试验 AEC-Q101-004 多种混合试验方法 •无钳位感应开关 •介质完整性
AEC-Q200-007-Rev-A:浪涌电压测试 7.AEC-Q001Rev-D:零件平均测试指南(提供使用统计技术和扩展的操作条件来建立零件测试极限的指南;此方法可用于提供“已知好品”。)8.AEC-Q002Rev-B:统计良率分析指南(提供了使用统计技术检测和去除异常集成电路批次的指南)9.AEC-Q003Rev-A:集成电路产品电性能表征指南10.AEC...
AEC-Q001 部件平均测试指南 AEC-Q005 无铅产品测试要求 AEC-Q006 使用铜(Cu)线链接部件的认证要求 AEC-Q101-001人体模型(HBM)静电放电(ESD)测试 AEC-Q101-003 绑线键合剪切试验 AEC-Q101-004 多种混合试验方法 •无钳位感应开关 •介质完整性