1. 静电放电人体模型(HBM) 1.1 试验信息 样品数量:1个批次;共 12 颗待测芯片 参考方法:AEC-Q100-002 脉冲次数:1 次 脉冲间隔:0.3 秒 测试电压:±500V/±1000V/±2000V 通过等级分类:通过等级H1C (±2000V) 测试脉宽:不适用 测试确认:芯片功能/性能测试(试验前后在室温和高温进行电测。)/I-V曲线对比 ...
汽⻋电子委员会元件技术委员会AEC - Q100-002 REV-EAEC - Q100-002 - REV-E⼈体模型静电放电测试附件22013 年 8 ⽉ 20 日Machine Translated by Google
AEC_Q100-002E人体模型(HBM)静电放电(ESD)测试.docx,AEC - Q100-002 - REV-E August 20, 2013 Automotive Electronics Council Component Technical Committee ATTACHMENT 2 AEC - Q100-002 REV-E HUMAN BODY MODEL ELECTROSTATIC DISCHARGE TEST AEC - Q100-002 - REV-E Au
人体模型（HBM，human body model），机器模型（MM，machine model），和带电器件充电模型（CDM，charged device model）。HBM的描述了日常生活中的静电模式，生产装配过程中主要是后两种模型。HBM模型如下（AEC-q100-002)：MM模型如下（AEC-q100-003)：AEC-Q100-002:HBM 静电放电测试 1，范围 1.1 描述 本文档的...
Electrostatic Discharge Human Body Model (HBM) 参考标准:AEC Q100-002; 目的:验证器件对人体静电的抵抗能力; 试验通过判断依据:测试前后电流-电压曲线在参考电流下电压的改变量不超过30%以及包络线失效范围不超过±10%,芯片验证完成后FT常、高温测试pass; ...
E 电性验证测试(TEST、HBM/MM、CDM、LU、ED、FG、CHAR、EMC、SC、SER、LF) -- 共11项测试 F 缺陷筛选测试分析(PAT、SBA) -- 共2项测试 G 腔体封装完整性测试(MS、VFV、CA、GFL、DROP、LT、DS、IWV) -- 共8项测试 AEC Q100 相关文件 AEC-Q100 基于失效机理的IC集成电路应力测试 ...
Mark A. Kelly Delphi Delco Electronics Systems AEC - Q100-002 - REV-D July 18, 2003 Automotive Electronics Council Component Technical Committee Change Notification The following summary details the changes incorporated into AEC-Q100-002 Rev-D: Section 3.5, steps d, e, j, and k: Added wording...
静电放电(HBM)HBMAEC-Q100-002 静电放电(CDM)CDMAEC-Q100-011 闩锁效应LUAEC-Q100-004 电分配EDAEC-Q100-009 故障等级FGAEC-Q100-007 特性描述CHARAEC-Q003 电磁兼容EMCSAE JI752/3 短路特性描述SCAEC-Q100-012 软误差率SERJESD89-1 JESD89-2
AEC-Q200-002 人体模式静电放电测试 AEC-Q200-003 断裂强度测试 AEC-Q200-004 自恢复保险丝测量程序 AEC-Q200-005 PCB板弯曲/端子邦线应力测试 AEC-Q200-006 端子应力(贴片元件)/切应力测试 AEC-Q200-007 电压浪涌测试 华碧能力范围及AEC-Q100技术要求 ...
AEC Q100表2中 E组验证前三项认证内容及说明 在展开此项内容之前，先说明下什么是带电器件，这里面的带电指的不是上电后的工作产品，而是说产品自身带有静电的这种充电状态下的产品，这些产品会对外放电，这种失效的模拟和验证就是CDM。（具体HBM和CDM的差别是什么，哪个风险更大，我会单起一个文章讨论，本来想...