飞行时间二次离子质谱原理 飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)是一种表面分析技术,其原理涉及离子轰击样品表面并测量所产生的次级离子的飞行时间。首先,样品表面被离子轰击,导致样品表面的原子和分子被激发或离子化。这些次级离子被收集并加速到一个飞行时间质谱仪中,其中它们通过一个飞行时间管道飞行到检测器。由于不同...
一次离子将其部分能量传递给晶格原子,这些原子中有一部分向表面运动,并把能量传递给表面离子使之发射,这种过程成为粒子溅射。在一次离子束轰击样品时,还有可能发生另外一些物理和化学过程:一次离子进入晶格,引起晶格畸变;在具有吸附层覆盖的表面上引起化学反应等。溅射粒子大部分为中性原子和分子,小部分为带正、负电荷的...
飞行时间质谱法基于以下事实:能量相同但质量不同的离子以不同的速度飞行。 静电场将产生的二次离子加速到相同的能量。然后,加速的离子通过漂移路径到达检测器。 较轻的离子以较高的速度飞行,并在较重的离子之前到达检测器。通过测量每个离子的飞行时间即可以确定其质量。这种分析循环是以高达50 kHz的重复率循环进行。
二次离子质谱主要利用质谱法区分一次离子溅射样品表面后产生的二次离子,可用来分析样品表面元素成分和分布。 飞行时间分析技术利用不同离子的质荷比不同造成的飞行速度不同来区分不同种类的离子。 TOF-SIMS结合了二次离子质谱和飞行时间器的功能,提高了检测样品元素成分和分布的准确性。 TOF-SIMS横向和纵向的分辨率高...
飞行时间二次离子质谱仪是一种基于时间测量的质谱分析仪器,其基本原理可以简述如下:在加速器内将分子离子化,进而将离子加速到高能态,然后将其引入一个飞行管道中,在管道中离子的速度随着飞行距离的增加而降低,同时离子会被电场分离成不同的能量带,最终落在检测器上。检测器会将离子信号转化成电信...
TOF-SIMS，即飞行时间二次离子质谱仪，其工作原理涉及一系列复杂的物理过程。首先，聚焦的一次离子束以稳定的方式轰击样品，这个过程中，一次离子可能遇到表面的背散射，虽然概率小，也可能穿透样品表面，经历弹性和非弹性碰撞。在穿透过程中，一次离子将部分能量传递给晶格原子，促使原子跃迁至表面并释放能量...
飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）是一种先进的分析工具，专用于材料表面和表层的化学成分分析。其原理基于一次离子束对样品的稳定轰击，引发粒子溅射，生成二次离子，通过质谱分离收集并分析。一次离子束在样品表面的轰击过程中，会产生一系列物理和化学反应，包括粒子溅射、晶格畸变以及表面化学反应等。溅...
二次离子飞行时间质谱仪(Secondary Ion Time-of-Flight Mass Spectrometer,SIMS-TOF)是一种高灵敏度、高分辨率的质谱仪,可用于追踪和分析固体表面的元素和分子。其基本原理是通过激光或离子束等方式将样品表面产生的离子加速、分离和检测,再通过时间测量推算出离子的质量和相...
TOF-SIMS(Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry),飞行时间二次离子质谱,也叫静态二次离子质谱,是飞行时间和二次离子质谱结合的一种新的表面分析技术。它结合了飞行时间和二次离子质谱的优点,具有高分辨、高灵敏度、精确质量测定等性能,是目前高技术领域广泛使用的分析技术。
TOF SIMS_德国IONTOF_飞行时间二次离子质谱的原理和功能.mp4 是在优酷播出的教育高清视频,于2020-04-13 16:49:17上线。视频内容简介:飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)是一种非常灵敏的表面分析技术,适用于许多工业和研究应用。 该技术可并行探测所有元素和化合物,具有极