测试周期:7个工作日 测试项目:质谱、面扫、深度剖析飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS)是一种在化工材料、微电子行业、生命科学和细胞分析等领域广泛应用的技术。它提供了两种型号的仪器:TOF-SIMS 5 iontof 和 PHI NanoTOFII,能够进行质谱、面扫和深度剖析三种测试。 送样要求 📦 深度剖析:只能接受块体样品,...
通过一次离子轰击固体材料表面,使二次离子从试样表面发射的方法叫作二次离子质谱（SIMS）法。飞行时间二次离子质谱（ToF-SIMS）法的原理是利用一次离子束溅射固体材料表面,得到二次离子,根据到达检测器的时间推断出二次离子的质荷比,从而得到试样表面的成分信息[1]。ToF-SIMS是一种应用广泛的固体表面分析技术,具有高...
飞行时间-二次离子质谱仪(Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry,简称TOF-SIMS)是一种基于质谱的表面分析技术。其原理是基于一次离子与样品表面相互作用(如下图)。高能一次离子束(如Ga+,Bi3+, Arn+,Cs+等)轰击样品表面,在轰击区域产生包含样品表面成分信息的带电粒子即离子,这些带电离子经过质量分析后...
TOF-SIMS分析条件: 初始离子束:镓源(Gallium LMIG) 初始离子束能量:15keV 分析范围: 150µm×150µm 充电中和:使用 后加速电压:5kV / 5kV (+/-) 检测结果 样品表面检测到Na, F, Cl, 硅氧烷, 含O有机峰。 备注: 1. 硅氧烷:红色箭头标注 2.含O有机峰:蓝色箭头标注 测试数据谱图发布...
飞行时间二次离子质谱仪(Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry, ToF-SIMS)是一种高灵敏度的表面分析技术,主要用于分析材料表面的化学组成和深度分布。至于它能够测试的深度范围,这主要取决于样品的性质、测试条件以及仪器的具体配置。通常情况下,ToF-SIMS的探测深度可以达到几个纳米到几百纳米不等。然而,这...
内容提示: T/SHPTA×—××× I ICS T/SHPTA 飞行时间二次离子质谱测试二次电池及其关键材料实验方法 Measuring methods for secondary batteries and related key materials by Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (征求意见稿) 在提交反馈意见时,请将您知道的相关专利连同支持性文件一并附上 xxxx-x...
飞行时间二次离子质谱仪(Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry ,简称TOF-SIMS)是通过用一次离子激发样品表面,打出极其微量的二次离子,根据二次离子因不同的质量而飞行到探测器的时间不同来测定离子质量的极高分辨率的测量技术。 TOF-SIMS作为最前沿实用的表面分析技术之一,可以通过离子束对样品表面进行轰击...
与这两种技术相比,飞行时间二次离子质谱法(toF-SIMS)可以探测到高灵敏度的锂离子,而且不需要电子束诱导锂还原。二次离子质谱法激光二次离子质谱利用一次离子束溅射直接检测表面原子。因此,原则上可以检测任何元素。特别地,由于锂具有高的正二次离子效率,因此可以用高灵敏度来检测它。实际上,利用 ToF-SIMS 对锂离子...
近年来,电池储能领域,尤其是二次电池的研究发展离不开测试技术的有力辅助。而且,深入理解电化学界面反应机理,更是对测试技术提出了极高的要求。在这里,笔者将带领各位储能领域的研究同仁,借助近十年已有的飞行时间二次离子质谱在锂基二次电池中的研究成果,深入了解这项测试技术的原理、进展及其在电化学储能系统中的应...
测试周期 7-10个工作日 服务 一站式检测服务 联系电话 0512-65587132 手机号 17312626973 业务经理 谷彪彪 所在地 江苏省昆山市陆家镇星圃路12号智汇新城B区7栋 更新时间 2025-01-08 08:00详细介绍 飞行时间二次离子质谱(tof-sims)技术,作为目前广受欢迎的表面分析技术之一,其在材料分析领域的独特优势已经得...