工作原理1. 利用聚焦的一次离子束在样品上进行稳定的轰击,一次离子可能受到样品表面的背散射(概率很小),也可能穿透固体样品表面的一些原子层深入到一定深度,在穿透过程中发生一系列弹性和非弹性碰撞。一次离子…
飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS),也叫静态二次离子质谱,是飞行时间和二次离子质谱结合的一种新的表面分析技术。TOF-SIMS具有高分辨、高灵敏度、精确质量测定等性能,是目前高技术领域广泛使用的分析技术。 非常灵敏的表面分析手段。其凭借质谱分析、二维成像分析、深度元素分析等功能,广泛应用于医学、细胞学、地质矿物...
飞行时间二次离子质谱仪是一种基于时间测量的质谱分析仪器,其基本原理可以简述如下:在加速器内将分子离子化,进而将离子加速到高能态,然后将其引入一个飞行管道中,在管道中离子的速度随着飞行距离的增加而降低,同时离子会被电场分离成不同的能量带,最终落在检测器上。检测器会将离子信号转化成电信...
TOF-SIMS，即飞行时间二次离子质谱仪，其工作原理涉及一系列复杂的物理过程。首先，聚焦的一次离子束以稳定的方式轰击样品，这个过程中，一次离子可能遇到表面的背散射，虽然概率小，也可能穿透样品表面，经历弹性和非弹性碰撞。在穿透过程中，一次离子将部分能量传递给晶格原子，促使原子跃迁至表面并释放能量...
飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）是一种先进的分析工具，专用于材料表面和表层的化学成分分析。其原理基于一次离子束对样品的稳定轰击，引发粒子溅射，生成二次离子，通过质谱分离收集并分析。一次离子束在样品表面的轰击过程中，会产生一系列物理和化学反应，包括粒子溅射、晶格畸变以及表面化学反应等。溅...
一、二次离子飞行时间质谱仪的基本原理 二次离子飞行时间质谱仪(Secondary Ion Time-of-Flight Mass Spectrometer,SIMS-TOF)是一种高灵敏度、高分辨率的质谱仪,可用于追踪和分析固体表面的元素和分子。其基本原理是通过激光或离子束等方式将样品表面产生的离子加速、分离和...
5.飞行时间质谱仪的基本原理如图1所示.主要由离子源区.第二加速电场.漂移区和探测器四部分组成.带正电的离子在离子源区形成后被电场强度大小为E的电场加速.进入电场强度大小为2E的第二电场再次加速.经过漂移区.到达离子探测器.设离子在离子源区加速的距离为S.二次加速的距
TOF-SIMS(Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry),飞行时间二次离子质谱,也叫静态二次离子质谱,是飞行时间和二次离子质谱结合的一种新的表面分析技术。它结合了飞行时间和二次离子质谱的优点,具有高分辨、高灵敏度、精确质量测定等性能,是目前高技术领域广泛使用的分析技术。
一、二次离子飞行时间质谱仪的基本原理 二次离子飞行时间质谱仪(Secondary Ion Time-of-Flight Mass Spectrometer,SIMS-TOF)是一种高灵敏度、高分辨率的质谱仪,可用于追踪和分析固体表面的元素和分子。其基本原理是通过激光或离子束等方式将样品表面产生的离子加速、分离和检测,再...
在一次离子束轰击样品时，还有可能发生另外一些物理和化学过程：一次离子进入晶格，引起晶格畸变；在具有吸附层覆盖的表面上引起化学反应等。溅射粒子大部分为中性原子和分子，小部分为带正、负电荷的原子、分子和分子碎片；2. 电离的二次粒子（溅射的原子、分子和原子团等）按质荷比实现质谱分离；3. 收集...