▶扫描电镜(SEM)+能谱仪(EDS)测试需求 01有不良来料时 需要对样品进行形貌观察和表面元素分析,确认不良类型。 02有不同批次来料时 可以用EDS对新物料和原物料进行元素比对分析,确认新物料是否可投入生产。 03产品测试接触不良时 可以用EDS对接触不良位置进行扫描观察和元素分析,确认是否是由于异物或者表面磨损造成的...
【摘要】扫描电子显微镜与能谱仪(SEM/EDS)是材料检测及研究领域的一种主要的检测分析手段,随着检测分析技术的不断发展,越来越成为材料分析研究不可或缺的助手。 设备优点: 1、图象的放大范围广,分辨率高,20-80万倍之间连续可调,景深大,成像富有立体感。 2、可观察表面微观形貌,还可利用能谱仪作表面微区成分分析...
分析测试,百科网,扫描电子显微镜能谱仪(EDS)原理, 能谱仪结构及工作原理 X射线能量色散谱分析方法是电子显微技术最基本和一直使用的,具有成分分析功能的方法,通常称为X射线能谱分析法,简称EDS或EDX方法。它是分析电子显微方法中最基本,最可靠,最重要的分析方法,所以一
edx电子显微镜扫描sem测试服务 扫描电子显微镜及能谱仪(SEM&EDX)测试服务项目负责人:**15901622012witsin.marvin@gmail(mailto:witsin.marvin@gmail)仪器简介扫描电镜检测电子束与样品相互左右后产生的各种物理信号,用于成像或者得到样品表面的元素信息。它具有分辨率高、景深大、放大倍数连续可调、制样简单、保真度...
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品牌/型号:日本JEOL,JSM-6510LV 所在地区:湖北省 仪器说明:我们目前尚未与武汉材料保护研究所提供的该仪器进行进一步的对接。如果您需要使用该仪器,建议您联系相关单位,以确定是否可以对外开放。您也可以通过点击此处提交需求,委托我们帮您联系相关单位。如果您选择通过我们联系相关单位进行送样测试,我们将为您提供以下保...
本专题涉及的标准有10条。 国际标准分类中,扫描电子显微镜/x-射线能谱涉及到犯罪行为防范、光学设备。 在中国标准分类中,扫描电子显微镜/x-射线能谱涉及到犯罪鉴定技术、电子光学与其他物理光学仪器。 国家质检总局,关于扫描电子显微镜/x-射线能谱的标准
场发射扫描电子显微镜及能谱分析仪 制造厂商:德国蔡司 购置日期:2015-02-15 规格型号:Merlin Compact 主要技术指标: a. 配备肖特基热场发射电子枪,五轴驱动样品台 b. 检测器:高灵敏度In-lens Duo(最表面二次/背散射电子信号)探测器, SE2(二次电子信号)探测器, AsB(背散射电子信号)探测器 c. 图像分辨率:...
无-电 镜 分辨率:3.0nm(30kV) 放大倍数:5~300000倍 加速电压:0.5~30kV 变焦聚光镜 全对中样品台 能谱仪 元素范围:Be~U X-stream模块控制X射线采集 mics模块控制采集图像 EDS探头探测X射线
场发射扫描电子显微镜/能谱仪(Scanning Electron Microscope/energy spectrometer) 所在单位:上海科汇高新技术创业服务中心 品牌/型号:FEI Electron Optics B.V. / EDAX,Quanta 400 FEG;CENESIS XM2 SEM EDS 所在地区:上海市 仪器说明:我们目前尚未与上海科汇高新技术创业服务中心提供的该仪器进行进一步的对接。如果您需...