百度爱采购为您找到13家最新的少子寿命测试仪器产品的详细参数、实时报价、行情走势、优质商品批发/供应信息,您还可以免费查询、发布询价信息等。
这款晶圆少子寿命测量仪是专业为晶圆少数载流子复合寿命测量设计的少子寿命测试仪器。晶圆少子寿命测量仪采用半标准准稳态光电导寿命测量方法QSSPC技术和瞬态光电导衰退技术测量在10ns~10ms范围的少子寿命。其中准稳态光电导寿命测量方法QSSPC非常适合监测多晶硅晶圆,掺杂扩散和低寿命样品。瞬态光电导衰退适合较高少子寿命的...
美国Sinton WCT-120少子寿命测试仪器 美国Sinton WCT-120少子寿命测试仪器采用了独特的测量和分析技术,包括准稳定态光电导(QSSPC)测量方法。可灵敏地反映单、多晶硅片的重金属污染及陷阱效应,表面复合效应等缺陷情况。WCT在大于20%的超高效率太阳能电池(HIT,MWT,EWT,PREL,等等)的研发和生产过程中是一种被广泛选用...
美国Sinton WCT-120少子寿命测试仪器采用了的测量和分析技术,包括准稳定态光电导(QSSPC)测量方法。可灵敏地反映单、多晶硅片的重金属污染及陷阱效应,表面复合效应等缺陷情况。WCT在大于20%的超高效率太阳能电池(HIT,MWT,EWT,PREL,等等)的研发和生产过程中是一种被广泛选用的检测工具。这种QSSPC测量少子寿命的方法可...
晶圆少子寿命测量仪是专业为晶圆少数载流子复合寿命测量设计的少子寿命测试仪器。 晶圆少子寿命测量仪采用半标准准稳态光电导寿命测量方法QSSPC技术和瞬态光电导衰退技术测量在10ns~10ms范围的少子寿命。其中准稳态光电导寿命测量方法QSSPC非常适合监测多晶硅晶圆,掺杂扩散和低寿命样品。瞬态光电导衰退适合较高少子寿命的晶圆...
少子寿命测试仪器中文说明.pdf,WT-2000 中文说明 WT-2000 中文说明 一.简介: 可选功能: UPCD 无接触测量少子寿命 LBIC 光诱导电流,反射率,计算电池内外量子效率 SHR 无接触测试方块电阻 RES 涡流法无接触测试电阻率 P/N 无接触型号测试 THCKNESS 电容法测试晶片厚度 设
苏州上器试验设备有限公司 经营模式:其他 商铺产品:43条 所在地区: 询价 给他留言 产品简介 对于糊烧的优化和过程控制来说是一台优秀的设备。开路方法表明了太阳能电池前体在结形成之后的数值。 详细介绍 扩散后制程控制 Suns-Voc阶段对于在铝烧,再次前网燃烧之后测量晶片是理想的。这使得这些步骤的优化和监...
寿命semilablbic中文代表处shr WT-2000中文说明WT-2000可选功能:UPCD无接触测量少子寿命LBIC光诱导电流,反射率,计算电池内外量子效率SHR无接触测试方块电阻RES涡流法无接触测试电阻率P/N无接触型号测试THCKNESS电容法测试晶片厚度设备概述:1.两台工控电脑,其中一台是DOS操作系统,主要负责测量数据的处理,机器动作的控制...