《半导体材料与器件表征技术》是2008年大连理工大学出版社出版的图书，作者是（美国）施罗德。该书详细介绍了现代半导体工业中半导体材料和器件的表征技术，基本上覆盖了所有的电学与光学测试方法，以及非常专业的与半导体材料相关的物理和化学测试方法。内容简介 《半导体材料与器件表征技术》作者不但论述了测量中的相关物理...
半导体材料与器件表征 半导体材料和器件的表征包括物理性能测量,光学特性,热性能,腐蚀特性,机械性能,电气特性,介电特性,光电特性,噪声特性和磁性能等。具体而言,这些性能测量可以在光度计,扫描电子显微镜,各种光谱仪,热释电测量仪,极化曲线测量仪,腐蚀测量仪,热循环测试仪,复印测量仪,D / U测试仪,电化学测量仪,磁...
《Semiconductor Material and Device Characterization ，3rd Edition（半导体材料与器件表征，第三版）》一书的主要内容介绍、重要技术和观点总结 《Semiconductor Material and Device Characterization ，3rd Edition》《Semiconductor Material and Device Characterization ，3rd Edition》是一本关于半导体材料和器件特性测试的...
《半导体材料与器件表征》仍然是专门用于半导体材料与器件测量表征技术的唯一教科书。覆盖范围包括全方位的电气和光学表征方法,包括更专业化的化学和物理技术。熟悉前两个版本的读者会发现一个彻底修订和更新的第3版,包括: •反映最新数据和信息的更新及订正图表和实例; ...
三、表征技术的意义 半导体材料与器件的表征技术不仅对于研发阶段至关重要,在生产过程中也扮演着质量控制的关键角色。通过这些技术,科研人员和工程师能够更精确地了解材料与器件的性能,从而优化设计方案,提高产品的性能和可靠性。 综上所述,半导体材料与器件的表征技术是确保半...
《半导体材料与器件表征技术》详细介绍了现代半导体工业中半导体材料和器件的表征技术,基本上覆盖了所有的电学与光学测试方法,以及非常专业的与半导体材料相关的物理和化学测试方法。作者不但论述了测量中的相关物理问题及半导体材料与器件的参数的物理起源和物理意义,还将自己和他人的经验凝结其中,并给出了具体测量手段,同时...
半导体材料与器件表征/国外名校新教材精选 [美]迪特尔·K·施罗德 著;徐友龙、任巍、王杰、阙文修、汪敏 【速开发票,优质售后,支持7天无理由退换】 作者:[美]迪特尔·K·施罗德 著;徐友龙、任巍出版社:西安交通大学出版社出版时间:2017年12月 手机专享价 ¥ 当当价 降价通知 ¥72.00 定价 ¥145.80 ...
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GaN基微波半导体器件材料的特性 材料。与目前绝大多数的半导体材料相比,GaN 具有独特的优势:禁带更宽、饱和漂移速度更大、临界击穿电场和热导率更高,使其成为最令人瞩目的新型半导体材料之一。目前,GaN 基发光器件的研究已取得了很大 xiejwu86 2019-06-25 07:41:00 B1500A 半导体器件参数分析仪/半导体表征系统...