半导体性能的好坏直接影响着电子设备的性能,因此在半导体材料和器件研究中,表征技术显得尤为重要。 一、半导体材料表征技术 半导体材料表征技术是指对半导体材料进行结构、物理、化学等方面的表征方法。其中,结构表征主要包括了X射线衍射、电子衍射和扫描电镜等技术;物理表征主要包括了热导率、热膨胀系数和电学性能等测量...
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《半导体材料与器件表征技术》作者:大连理工大学出版社,出版社:2008年6月 第1版,ISBN:99.80。本书详细介绍了现代半导体工业中半导体材料和器件的表征技术,基本上覆盖了所有的电学与光学测试方法,以及
《半导体材料与器件表征技术》详细介绍了现代半导体工业中半导体材料和器件的表征技术,基本上覆盖了所有的电学与光学测试方法,以及非常专业的与半导体材料相关的物理和化学测试方法。作者不但论述了测量中的相关物理问题及半导体材料与器件的参数的物理起源和物理意义,还将自己和他人的经验凝结其中,并给出了具体测量手段,同时...
《半导体材料与器件表征技术》一书全面介绍了现代半导体工业中半导体材料与器件的表征方法,包括电学与光学测试,以及物理和化学测试。作者深入探讨了测量中的物理问题、半导体材料与器件参数的物理起源和意义,并分享了个人与同行的经验与测量技术。书中强调了不同方法的局限性和注意事项。此书经过修订和扩展,...
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原子力显微镜是一种常用的微纳尺度表征技术。它利用针尖与样品之间的相互作用力来获取样品表面的拓扑结构信息。AFM的分辨率可以达到纳米甚至亚纳米级别,具有高分辨率、高灵敏度和非破坏性等特点,可用于表征半导体材料和器件的表面形貌、粗糙度、纳米级别结构等特征。 二、透射电子显微镜(TEM) 透射电子显微镜是一种通过电子...
2.3.1 MOSFET衬底电压-栅电压 2.3.2 MOSFET阈值电压 第3章 接触电阻、肖特基势驿及电迁移 第4章 串联电阻、沟道长度与宽度、阈值电压及热载流子 第5章 缺陷 第6章 氧化物、界面陷阱电茶及气化物完整性 第7章 载流子寿命 第8章 迁移率 第9章 光学表征 第10章 物理化学特性的表征 ...
半导体材料与器件表征技术[M]. 刘爱民,张 贺秋,刘艳红,等译. 大连: 大连理工出版社,2008. Dieter K S. Semiconductor material and device characterization [M]... DK Schroder 被引量: 1232发表: 1998年 Semiconductor Material And Device Characterization 半导体材料与器件表征技术[M]. 刘爱民,张 贺秋,刘艳红...