透射电子显微镜(英语:Transmission electron microscope,缩写TEM),简称透射电镜,是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上,电子与样品中的原子碰撞而改变方向,从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度相关,因此可以形成明暗不同的影像,影像将在放大、聚焦后在成像器件(如荧光屏、胶片、以及感光耦合组件)...
透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope,TEM)于1932年左右发明,它是用波长很短的电子束作电子光源,用电子枪发射出的高速率和聚集电子束照射到很细的试样上,采集透射电子通过电磁透镜进行多级放大成像,具有高分辨和高放大倍数特性的电子光学仪器。 图1 TEM工作示意图 2、透射电镜(TEM)基本原理 从电子枪射出的...
透射电镜(TEM),全称透射电子显微镜,用电磁场作透镜,把经加速和聚集的电子束投射到超薄切片的样品上(通常70-90nm),电子与样品中的原子碰撞而改变方向,从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度相关,因此可以形成明暗不同的影像,影像将在放大、聚焦后在成像器件上显示出来。是一种高分辨率(0.1nm-0.2nm)...
人类为何要发明透射电镜？那是因为科学家所能制作的最精密的光学显微镜，也无法看清小于0.2微米的细微结构，要想实现对更微观世界的观察，就必须选择波长更短的“光源”，以提高显微镜的分辨率。于是，以电子束为光源的透射电镜应运而生，由于电子束的波长要比可见光和紫外光短得多，透射电镜便可以观察到更精细的...
电衬度:由于样品的电学性质差异导致的衬度,例如导电性不同的区域。在透射电镜(TEM)中,电衬度可以通过电子能量损失谱(EELS)检测,EELS 可以测量电子在穿过样品时的能量损失。不同的电学性质会导致不同的能量损失,从而产生电衬度。通过分析EELS 谱,可以获得有关样品电学性质的信息。
透射电镜(TEM)是什么? 透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope, TEM)于1932年左右发明,是一种以波长极短的电子束作为电子光源,利用电子枪发出的高速的、聚集的电子束照射至非常薄的样品,收集透射电子流经电磁透镜多级放大后成像的高分辨率、...
透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope, 简称TEM),是一种把经加速和聚集的电子束透射到非常薄的样品上,电子与样品中的原子碰撞而改变方向,从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度等相关,因此可以形成明暗不同的影像,影像在放大、聚焦后在成像器件(如荧光屏,胶片以及感光耦合组件)上显示出来的显...
透射电镜的分辨率极高,通常可达0.1nm～0.2nm,相当于原子尺度的十分之一。放大倍数则可从0.2K到近百万倍不等,这种高分辨率和高放大倍数使得透射电镜能够“透视”样品的细微结构,包括原子排列、晶体缺陷、界面结构等,为科学研究提供了强大的“视力”。 二、透射电镜的应用领域 材料科学 在材料科学领域,透射电镜如同一...