透射电子显微镜(英语:Transmission electron microscope,缩写TEM),简称透射电镜,是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上,电子与样品中的原子碰撞而改变方向,从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度相关,因此可以形成明暗不同的影像,影像将在放大、聚焦后在成像器件(如荧光屏、胶片、以及感光耦合组件...
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在使用洛伦兹显微镜进行测量时,需要注意样品制备(磁性材料的表面质量和厚度对测量结果有影响,需要进行适当的样品制备)和磁场校准(磁场的强度和均匀性需要进行校准,以确保测量的准确性)。 这些衬度机制相互作用,共同决定了透射电镜图像的细节和特征。通过对衬度的分析,可以获取有关样品...
透射电镜(TEM)是什么? 透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope, TEM)于1932年左右发明,是一种以波长极短的电子束作为电子光源,利用电子枪发出的高速的、聚集的电子束照射至非常薄的样品,收集透射电子流经电磁透镜多级放大后成像的高分辨率、高放大倍数的...
赛默飞积极响应大规模设备更新,我们的TEM透射电子显微镜结合了TEM透射电镜和SEM扫描电镜的优势可对大样品面积进行高分辨率原子级分析非常适用于材料研究。我们的服务团队专业、高效为您提供全方位的技术支持。欢迎联系我们了解更多信息。
01 透射电镜(TEM)是什么? 透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope, TEM)于1932年左右发明,是一种以波长极短的电子束作为电子光源,利用电子枪发出的高速的、聚集的电子束照射至非常薄的样品,收集透射电子流经电磁透镜多级放大后成像的高分辨率、高放大倍数的电子光学仪器。
透射电镜和光学显微镜的各透镜及光路图基本一致,都是光源经过聚光镜会聚之后照到样品,光束透过样品后进入物镜,由物镜会聚成像,之后物镜所成的一次放大像在光镜中再由物镜二次放大后进入观察者的眼睛,而在电镜中则是由中间镜和投影镜再进行两次接力放大后最终在荧光屏上形成投影供观察者观察。电镜物镜成像光路图也...
全球能制造透射电镜的厂商并不多，以欧美日大型电子公司为主，比如德国的蔡司（Zeiss）,美国的FEI公司，日本的日立（Hitachi）等。TEM系统组件 TEM和SEM的区别：一束高能量入射电子轰击材料表面后，受激区域会出现二次电子，背散射电子和俄歇电子等特征X射线和透射电子及可见，紫外和红外光区电磁辐射等。扫描电镜收集...
透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope, 简称TEM),是一种把经加速和聚集的电子束透射到非常薄的样品上,电子与样品中的原子碰撞而改变方向,从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度等相关,因此可以形成明暗不同的影像,影像在放大、聚焦后在成像器件(如荧光屏,胶片以及感光耦合组件)上显示出来的显...