透射电子显微镜(英语:Transmission electron microscope,缩写TEM),简称透射电镜,是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上,电子与样品中的原子碰撞而改变方向,从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度相关,因此可以形成明暗不同的影像,影像将在放大、聚焦后在成像器件(如荧光屏、胶片、以及感光耦合组件)...
透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope,TEM)于1932年左右发明,它是用波长很短的电子束作电子光源,用电子枪发射出的高速率和聚集电子束照射到很细的试样上,采集透射电子通过电磁透镜进行多级放大成像,具有高分辨和高放大倍数特性的电子光学仪器。 图1 TEM工作示意图 2、透射电镜(TEM)基本原理 从电子枪射出的...
透射电镜(TEM),全称透射电子显微镜,用电磁场作透镜,把经加速和聚集的电子束投射到超薄切片的样品上(通常70-90nm),电子与样品中的原子碰撞而改变方向,从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度相关,因此可以形成明暗不同的影像,影像将在放大、聚焦后在成像器件上显示出来。是一种高分辨率(0.1nm-0.2nm)...
透射电子显微镜(英语:Transmission electron microscope,缩写TEM),简称透射电镜,是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上,电子与样品中的原子碰撞而改变方向,从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度相关,因此可以形成明暗不同的影像。通常,透射电子显微镜的分辨率为...
电衬度:由于样品的电学性质差异导致的衬度,例如导电性不同的区域。在透射电镜(TEM)中,电衬度可以通过电子能量损失谱(EELS)检测,EELS 可以测量电子在穿过样品时的能量损失。不同的电学性质会导致不同的能量损失,从而产生电衬度。通过分析EELS 谱,可以获得有关样品电学性质的信息。
透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope, 简称TEM),是一种把经加速和聚集的电子束透射到非常薄的样品上,电子与样品中的原子碰撞而改变方向,从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度等相关,因此可以形成明暗不同的影像,影像在放大、聚焦后在成像器件(如荧光屏,胶片以及感光耦合组件)上显示出来的显...
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