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池雅庆 中国人民解放军国防科学技术大学 / 科研之友号:82893709 科研之友人员唯一编号 0 项目 127 成果 1377 阅读 0 下载 180 被引 7 H-指数 主页 成果
由于负偏置温度不稳定性和热载流子注入,p型金属氧化物半导体场效应晶体管(pMOSFET)将在工作中不断退化,而其SiO2/Si界面处界面态的积累是导致其退化...
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结果显示.SEU截面随温度的变化改变了 SRAM SEU截面-LET值曲线形状,导致其LET 阈值漂移,从而影响空间错误率预估结果. 著录项