荧光分析 X射线荧光分析是确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法，又称X射线次级发射光谱分析，是利用原级X射线光子或其它微观粒子激发待测物质中的原子，使之产生次级的特征X射线（X光荧光）而进行物质成分分析和化学态研究。1948年由H.费里德曼（H.Friedmann）和L.S.伯克斯（L.S.Birks）制成第一台波长色散...
未知成分分析,配方还原,检测分析,产品研发,产品技术 原理X射线的波长和晶体内部原子面之间的间距相近,大约在10-8～10-10cm之间,因此晶体可以作为X射线的空间衍射光栅,即一束X射线照射到物体上时,受到物体中原子的散射,每个原子都产生散射波,这些波… 工业CT-X射线成像 ...
在固体材料的分析研究中,常见的标识X射线包括K系的 K_{\alpha} 和K_{\beta} 两种辐射和L系的三种相近辐射。图3给出了K系、L系辐射线与核外内层电子跃迁的对应关系及波长情况。其它的电子跃迁所产生的辐射,或者因为强度低,或者因为光子能量(或波长、频率)超出常见的分析观察区域而较少遇到。 图3 K系、L系...
研究人员还进一步分析了单个原子对X射线激发电流的贡献的大小和形状，发现它们与探针和样品之间的距离和相对位置有关。他们提出了一个理论模型，基于X射线近场效应来解释这些现象。X射线近场效应是指当X射线照射一个纳米尺度的物体时，它会在物体表面产生一个局域化的X射线场，它的强度和方向与物体的形状和取向有关...
荧光X射线分析又称X射线次级发射光谱分析。本法系利用原级X射线光子或其它微观粒子激发待测物质中的原子，使之产生次级的特征X射线（X光荧光）而进行物质成分分析和化学态研究的方法。历史背景 1948年由H.费里德曼（H.Friedmann）和L.S.伯克斯（L.S.Birks）制成第一台波长色散X射线荧光分析仪，至60年代本法在...
X射线的检测 检测试样发射的X射线谱并对试样进行微区化学成分分析的方法主要由波谱法和能谱法两种。1、波谱法 高能电子束射入试样会激发出试样中各个元素的特征X射线，不同元素不同谱线的X射线具有不同的波长λ。当它们射入同一个单晶体时，假定晶体的晶面间距为d，根据布拉格定理：2dsinθ=nλ，不同波长的X射线...
荧光x射线分析是x射线发射光谱分析方法之一。当试样受到高能量的入射线轰击时，其中各组分元素的原子受到激发而产生次级的特征x射线，即为荧光x射线。简介 荧光x射线分析即X射线荧光光谱分析，不同元素具有波长不同的特征荧光x射线谱线，各谱线均强度又与元素的浓度呈一定关系，测定待测元素特征荧光x射线谱线的波长和...
XRF 的仪器主要由三部分组成：X 射线源、样品台和探测器。X 射线源产生 X 射线，照射到样品上；样品台固定样品，并可以调节样品与 X 射线源和探测器之间的距离和角度；探测器接收样品发出的 X 射线荧光，并将其转换为电信号。电信号经过放大、滤波、分析等处理后，就可以得到样品中元素的种类和含量。XRF 的优点...
XPS谱图分析——卫星线 X射线的卫星线: 用来照射样品的单色x射线并非单色,常规Al/Mg Kα1,2 射线里混杂能量略高的Kα3,4,5,6 和Kβ射线,它们分别是阳极材料原子中的L2和L3能级上的6个状态不同的电子和M 能级的电子跃迁到K 层上产生的荧光X射线...