X射线荧光分析是确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法，又称X射线次级发射光谱分析，是利用原级X射线光子或其它微观粒子激发待测物质中的原子，使之产生次级的特征X射线（X光荧光）而进行物质成分分析和化学态研究。1948年由H.费里德曼（H.Friedmann）和L.S.伯克斯（L.S.Birks）制成第一台波长色散X射线荧光...
一、X射线荧光光谱分析的基本原理X射线荧光光谱分析的基本原理是当X射线照射到物质表面时，物质中的原子内层电子受到激发跃迁到高能级，随后又跃迁回低能级，释放出特征X射线，即荧光X射线。这些荧光X射线的波长与元素的原子序数有关，因此可以通过测量荧光X射线的波长和强度来确定样品中元素的种类和含量。二、X射线荧...
X射线荧光分析中利用晶体对X射线分光，分光晶体起光栅的作用。晶体分光X射线衍射的条件就是布拉格方程：2dsinθ=nλ 波长为λ的X射线荧光入射到晶面间距为d的晶体上，只有入射角θ满足方程式的情况下，才能引起干涉。也就是说，测出角度θ，就知道λ，再按莫斯莱公式便可确定被测元素。概述：X射线荧光光谱分析的...
X射线荧光分析的理论基础 X射线荧光分析的可靠性依赖于几个重要的物理定律。首先是莫塞莱定律(Moseley’s law),它反映了元素X射线特征光谱与原子序数之间的关系。 莫塞莱通过对多种元素的X射线特征光谱进行研究,发现谱线频率的平方根与元素在周期表中的序号成线性关系。这一定律表明,X射线的特征光谱与原子序数一一...
荧光X射线分析又称X射线次级发射光谱分析。本法系利用原级X射线光子或其它微观粒子激发待测物质中的原子，使之产生次级的特征X射线（X光荧光）而进行物质成分分析和化学态研究的方法。历史背景 1948年由H.费里德曼（H.Friedmann）和L.S.伯克斯（L.S.Birks）制成第一台波长色散X射线荧光分析仪，至60年代本法在...
荧光x射线分析即X射线荧光光谱分析，不同元素具有波长不同的特征荧光x射线谱线，各谱线均强度又与元素的浓度呈一定关系，测定待测元素特征荧光x射线谱线的波长和强度就可进行定性和定量分析。荧光x射线光谱分析，具有谱线简单，分析速度快，可直接刘固体、液体、料浆和粉状等不同状态的样品作非破坏性分析，测量元素范围...
它的基本原理是：当 X 射线照射到物质上时，会与物质中的原子发生相互作用，使原子中的电子从低能级跃迁到高能级，或者从高能级跃迁到低能级。当电子从高能级跃迁到低能级时，会释放出一定波长和强度的 X 射线，这就是 X 射线荧光。不同元素的 X 射线荧光具有不同的波长和强度，因此可以根据 X 射线荧光的波长...
荧光分析 X射线荧光分析是确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法，又称X射线次级发射光谱分析，是利用原级X射线光子或其它微观粒子激发待测物质中的原子，使之产生次级的特征X射线（X光荧光）而进行物质成分分析和化学态研究。1948年由H.费里德曼（H.Friedmann）和L.S.伯克斯（）制成第一台波长色散X射线荧光...
X射线荧光光谱分析是基于X射线与物质相互作用的原理。在分析过程中,样品暴露在高能X射线束下,X射线与样品中的原子产生相互作用,使原子内的内层电子被激发。当激发的电子回到基态时,会发射出特定能量的X射线,这些特定能量的X射线被称为荧光X射线。每个元素都有其特定的荧光X射线能量,通过测量样品发射的荧光X射线能量...