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使用4200-CVU-PWR C-V功率分析软件包及4200A-SCS参数分析仪执行高电压和高电流C-V测量 - NEW 本应用指南介绍了怎样使用Keithley 4200A-SCS、4210-CVU和4200-CVU-PWR C-V功率分析软件包实现和优化高C-V测试。 半导体特性分析方法和技术 - NEW 4200A-SCS 半导体特性分析方法和技术应用指南本半导体特性分析应用...
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4200-SCS半导体特性分析系统是用于器件、材料和半导体工艺参数分析的完整解决方案。这种先进的参数分析仪具有无可比拟的测量灵敏度和精度,同时继承了嵌入式Windows操作系统和吉时利交互式测试环境,为半导体科研及产业用户进行半导体器件特性分析提供了直观而高级的功能 ...
用途 半导体霍尔效应测试仪 型号 4200A-SCS 价格说明 价格:商品在爱采购的展示标价,具体的成交价格可能因商品参加活动等情况发生变化,也可能随着购买数量不同或所选规格不同而发生变化,如用户与商家线下达成协议,以线下协议的结算价格为准,如用户在爱采购上完成线上购买,则最终以订单结算页价格为准。 抢购价:...
范围 ± 210 V/100 mA 或± 210 V/1 A 模块 线数 2 线或 4 线 负载电容 100 μF 超低频率电容测量 10 mHz - 10 Hz 频率范围 1 kHz - 10 MHz 高速脉冲电压源通道 两个 可售卖地 全国 I-V 源测量单元(SMU) ± 210 V/100 mA 或± 210 V/1 A 模块 100 fA测量分辨率 选配前端放大...
吉时利4200-SCS半导体参数分析仪keithley4200A-SCS参数分析仪 产品概述KEITHLEY 4200-SCS Keithley 4200-SCS 半导体特性分析系统可执行实验室级直流和脉冲器件特性分析、实时绘图和分析,具有高精度和亚飞米至安培分辨率。Keithley 4200-SCS 提供全集成特性分析系统中最先进的功能,包括一台完整的嵌入式 PC,配有 Windows 操...
Tek 吉时利4200A-SCS半导体参数分析仪 参数查看,快速清晰。 推进大胆发现从未如此容易。4200A-SCS 参数分析仪从设置到运行检定测试的时间减少高达 50%,从而实现测量和分析能力。此外,嵌入式测量专业知识提供测试指导,并让您对终结果充满信息。 特点 用于DC IV、CV 和脉冲 IV 测量类型的高级测量硬件 立即使用 Clarius...
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