像衬度原理像衬度原理 电子显微镜成像。 在电子显微镜(透射电子显微镜 TEM、扫描电子显微镜 SEM )成像中,像衬度主要有三种来源: 质厚衬度。 原理:样品不同部位对电子的吸收和散射程度不同。对于非晶态样品,厚度较大或平均原子序数较高的区域,吸收和散射的电子较多,透过样品并参与成像的电子较少,在图像上显示为较...
引起各种信号产额扫描电镜像衬度的来源有三个方面:① 试样本身性质(表面凹凸不平、成分差异、取向差异、表面电位差别等);② 信号本身性质(二次电子、背散射电子);③对信号的人工处理。 1. 形貌衬度 A. 二次电子产额和人射电子束角度的关系 能量相同的电子束轰击样品形貌不同的区域,产生的二次电子的深度一样。...
具有一定规律的二次电子会受到这种磁场的影响而偏转,形成某种衬度,这就是第一类磁衬度,表现为条纹型衬度。 背散射电子在样品中的自由程较长,外界磁场可能会影响电子的轨迹,凡是轨迹弯向表面的电子易于逃逸出,相反,轨迹背离表面向内部弯曲的电子不易逃逸出,最终形成的背散射电子反射系数 η 不同,产生的衬度就是第...
中材检测中心以前有说过，透射电子显微镜图像的衬度来源于样品对入射电子束的散射。电子波在穿过样品时振幅和相位会发生变化，这两种变化都会引起图像衬度。因此，在TEM观察中对振幅衬度和相位衬度进行区分尤为重要。其中，振幅衬度包括了质-厚衬度和衍射衬度。在TEM、STEM模式和明场（BF）、暗场（DF）像中都能观...
因此,BE形貌分析效果远不及SE,故一般不用BE信号。 二次电子像衬度形成原理: 成像原理为:二次电子产额对微区表面的几何形状十分敏感。 如图所示,随入射束与试样表面法线夹角增大,二次电子产额增大。 因为电子束穿入样品激发二次电子的有效深度增加了,使表面5-10 nm作用体积内逸出表面的二次电子数量增多。
4.2SEM像衬度 4.2SEM像衬度SEM像衬度的形成主要基于样品微区诸如表面形貌、原子序数、晶体结构、表面电场和磁场等方面存在着差异。入射电子与之相互作用，产生各种特征信号，其强度就存在着差异，最后反映到显像管荧光屏上的图像就有一定的衬度。1表面形貌衬度 利用与样品表面形貌比较敏感的物理信号(二次电子)作为...
像衬度（Contrast）指的是图像上不同区域间存在的明暗程度的差异，也正是因为衬度，我们才能看到各种具体的图像。像衬度是光学显微镜的另一个关键问题，有些显微镜观察对象，如生物标本，其细节间亮度差别甚小，加之显微镜光学系统设计制造误差使其像衬度进一步降低而难于分辨，此时，看不清物体细节，不...
透射电镜的图像衬度是指荧光屏或照相底板上图像的明暗程度. 又叫黑白反差, 或叫比照度. 由于图像上不同区域衬度的差异,才使得材料微观组织分析成为可能.只有了解图像衬度的形成机 制,才能对各种图像给予正确解释.透射电子显微像有三种衬度类型,分别为质厚衬度,衍射衬度 和相位衬度. 5.1 质厚衬度原理 试样各...
单一透射束通过物镜光栏成明场像,或利用单一衍射束通过物镜光栏成暗场像.近似考虑,忽略双束成像条件下电子在试样中的吸收,明暗场像衬度是互补的.明场像和暗场像均为振幅衬度,即它们反映的是试样下表面处透射束或衍射束的振幅大小分布,而振幅的平方可以作为强度的量度,由此便获得了一幅通过振幅变化而形成衬度变化的...
二次电子产额和背散射电子反射系数都可以反映试样的形貌衬度,但由于背散射电子的出射深度较深,发射区域相对较大,因此其空间分辨率相对二次电子要低得多,并且其立体感也不及二次电子。背散射电子很大程度上反映的是亚表面的形貌。如图5所示,对于锂电池电极材料的二次电子像和背散射电子像,明显可以观察到二次电子像...