图16 断口的SE像和BSE像 四、磁衬度 在某些试样中,比如铁磁性材料中的磁畴、录像磁带上的磁场或集成电路中的薄膜导线,会在试样表面形成外延磁场。具有一定规律的二次电子会受到这种磁场的影响而偏转,形成某种衬度,这就是第一类磁衬度,表现为条纹型衬度。 背散射电子在样品中的自由程较长,外界磁场可能会影响电子...
像衬度原理 电子显微镜成像。 在电子显微镜(透射电子显微镜 TEM、扫描电子显微镜 SEM )成像中,像衬度主要有三种来源: 质厚衬度。 原理:样品不同部位对电子的吸收和散射程度不同。对于非晶态样品,厚度较大或平均原子序数较高的区域,吸收和散射的电子较多,透过样品并参与成像的电子较少,在图像上显示为较暗的区域;...
二次电子像衬度形成原理:成像原理为:二次电子产额对微区表面的几何形状十分敏感。如图所示,随入射束与试样表面法线夹角增大,二次电子产额增大。相关推荐 1二次电子像和背散射电子像在显示表面形貌衬度时有何相同与不同之处说明二次电子像衬度形成原理 2二次电子像和背散射电子像在显示表面形貌衬度时有何相同与...
散射衬度像是由于样品的特征通过对电子的散射能量的不同变成了有明暗差别的电子图像;衍射衬度是来源于晶体试样各部分满足布拉格反射条件不同和结构振幅的差异;相位衬度是利用电子束透过样品的不同部分后其透射波发生相位差,将这相位差转换为振幅差,实现图像衬度。
中心暗场像 (CDF)：入射电子束对试样倾斜照明，得到的暗场像。像不畸变、分辨率高。2、明场像暗场像的产生原理 3、分析应用 主要的衍射衬度来源 (1)两个晶粒的取向差异使它们偏离布拉格衍射的程度不同而形成的衬度；(2) 缺陷或应变场的存在，使晶体的局部产生畸变，从而使其布拉格条件改变而形成的衬度;(3)微...
•在TEM中,通过使电子束通过样品并收集透射的电子来观察和分析材料的内部结构,从而形成像衬度。 2. •TEM中形成像衬度的原理是基于电子束的散射和干涉现象。 •当电子束通过不同材料的界面时,由于材料的不均匀性会引起电子束的散射,这部分散射的电子将不参与形成像的过程,造成像上的浓度差异。 •同时,来...
它的成像原理是基于地物表面对太阳辐射的反射和散射特性。当太阳光照射到地面上的物体时,不同的地物会表现出不同的反射和散射特性,这些特性会被传感器捕捉到并转化为图像。 衬度像的特点包括以下几个方面: 1. 多光谱信息,衬度像能够获取多光谱数据,即不同波段的光谱信息,从可见光到红外波段,这使得衬度像能够...
衍射衬度成像原理如下图所相关知识点: 试题来源: 解析 答:设薄膜有A、B两晶粒,B内的某示。 (hkl)晶面严格满足Bragg条件,且B晶粒内满足“双光束条件”,则通过(hkl)衍射使入射强度I分解为I和I-I两部0hklOhkl分,A晶粒内所有晶面与Bragg角相差较大,不能产生衍射。 在物镜背焦面上的物镜光阑,将衍射束挡掉,...
TEM、SEM图像衬度原理分别是什么 相关知识点: 试题来源: 解析 TEM:由于穿过试样各点后电子波的相位差情况不同,在像平面上电子波发生干涉形成的合成波色不同,形成图像上的衬度 SEM:背散射电子能量高,以直线轨迹溢出样品表面,背向检测器的表面无法收集电子变成阴影,可以分析凹面样品 ...