主要有:俄歇电子能谱分析(AES)、X射线光电子能谱分析(XPS) 、紫外光电子能谱(UPS)。俄歇电子能谱法(AES)AES可以用于研究固体表面的能带结构、表面物理化学性质的变化(如表面吸附、脱附以及表面化学反应);用于材料组分的确定、纯度的检测、材料尤其是薄膜材料的生长等。 俄歇电子能谱(Auger Electron Spectrometry,简...
俄歇电子强度除与原子的浓度有关外,还与样品表面的光洁度、元素存在的化学状态以及仪器的状态(谱仪对不同能量的俄歇电子的传输效率不同)有关,谱仪的污染程度、样品表面的C和O的污染、吸附物的存在、激发源能量的不同均影响定量分析结果,所以,AES不是一...
俄歇电子强度除与原子的浓度有关外,还与样品表面的光洁度、元素存在的化学状态以及仪器的状态(谱仪对不同能量的俄歇电子的传输效率不同)有关,谱仪的污染程度、样品表面的C和O的污染、吸附物的存在、激发源能量的不同均影响定量分析结果,所以,AES不是一种很好的定量分析方法,它给出的仅仅是半定量的分析结果。 根...
AES主要用于分析金属和半导体等导电材料的表面成分和电子结构。AES的应用领域包括金属薄膜的表征、光伏器件的表面化学分析等。 综上所述,X射线光电子能谱(XPS)和反射能量损失光谱(AES)是两种常用的电子能谱分析方法。它们通过照射样品表面并测量逸出电子能谱来获取有关材料表面成分和电子结构的信息。XPS广泛应用于材料...
首先,XPS是利用X射线来激发样品表面的电子,通过测量这些电子的能量和数量来分析样品表面的元素成分和化学状态。而AES则是利用激发电子的原子内壳电子能级跃迁来获取样品表面的化学信息。因此,XPS和AES在激发源和测量原理上有所不同。 其次,XPS主要用于分析表面元素的化学状态、化学键和表面形貌等信息,对于表面分析和化学...
X射线光电能谱(XPS)和俄歇电子能谱(AES) 一、概念 1。 X光电子能谱法(XPS)是一种表面分析方法,提供的是样品表面的元素含量与形态,而不是样品整体的成分。其信息深度约为3-5nm。如果利用离子作为剥离手段,利用XPS作为分析方法,则可以实现对样品的深度分析。固体样品中除氢、氦之外的所有元素都可以进行XPS分析。
✅ AES分析 基本原理:Auger效应 基本组成:真空室、电子枪、电子能量分析器 辅助组成:离子枪、SAM 主要功能:成分分析(点、线、面、深度分布) 采谱方法:微分谱、直接谱 分析方法:定性分析、定量分析 ✅ XPS分析 基本原理:光电效应 基本组成:真空室、X射线源、电子能量分析器 ...
电子能谱分析XPS和AES
MultiPak是基于MATLAB开发针对XPS和AES的专业数据分析软件,采用先进的分析算法实现功能强大的数据分析,可以轻松的实现XPS谱图处理的一些常规功能,例如谱峰自动识别、化学态信息提取、定量分析结果一键输出、数据处理和谱图分峰拟合操作等等。 四、安装教程 注意事项 ...
AESAuger效应 Auger跃迁 Auger跃迁的标记以空位、跃迁电子、发射电 子所在的能级为基础。如初态空位在K能级,L 1 能级上的一个电子向下跃迁填充K空位,同时激 发L 3 上的一个电子发射出去便记为KL 1 L 3 。一般 地说,任意一种Auger过程均可用W i X p Y q 来表 示。此处,W i ,X p 和Y q 代表所对...