主要有:俄歇电子能谱分析(AES)、X射线光电子能谱分析(XPS) 、紫外光电子能谱(UPS)。俄歇电子能谱法(AES)AES可以用于研究固体表面的能带结构、表面物理化学性质的变化(如表面吸附、脱附以及表面化学反应);用于材料组分的确定、纯度的检测、材料尤其是薄膜材料的生长等。 俄歇电子能谱(Auger Electron Spectrometry,简...
俄歇电子强度除与原子的浓度有关外,还与样品表面的光洁度、元素存在的化学状态以及仪器的状态(谱仪对不同能量的俄歇电子的传输效率不同)有关,谱仪的污染程度、样品表面的C和O的污染、吸附物的存在、激发源能量的不同均影响定量分析结果,所...
超全面对比讲解两种重要表面分析技术——AES和XPS 材料的表面分析技术主要有3种:俄歇电子能谱分析(AES)、X射线光电子能谱分析(XPS) 、原子力显微镜(AFM),今天主要对比学习前两种。 // 什么是电子能谱分析法? // 电子能谱分析法是采用单色光源(如X射线、紫外光)或电子束去照射样品,使样品中电子受到激发而发射...
AES的状态分析是利用俄歇峰的化学位移,谱线变化(包括峰的出现或消失),谱线宽度和特征强度变化等信息。根据这些变化可以推知被测原子的化学结合状态。一般而言,由AES解释元素的化学状态比XPS更困难。实践中往往需要对多种测试方法的结果进行综合分析后才能作出正确的判断。 4. 深度剖面分析 利用AES可以得到元素在原子尺度...
XPS广泛应用于材料研究、催化剂表征、薄膜和界面研究等领域。 反射能量损失光谱(Auger Electron Spectroscopy, AES)是另一种常用的电子能谱分析方法。AES是一种利用样品表面产生的俄歇电子进行表征的技术。与XPS类似,AES也是一种通过照射样品表面并测量逸出电子能谱来获取有关材料表面成分和电子结构的信息。 AES的原理...
材料的表面分析技术主要有3种:俄歇电子能谱分析(AES)、X射线光电子能谱分析(XPS) 、原子力显微镜(AFM),今天主要对比学习前两种。 什么是电子能谱分析法? 电子能谱分析法是采用单色光源(如X射线、紫外光)或电子束去照射样品,使样品中电子受到激发而发射出来(这些自由电子带有样品表面信息),然后测量这些电子的产额...
首先,XPS是利用X射线来激发样品表面的电子,通过测量这些电子的能量和数量来分析样品表面的元素成分和化学状态。而AES则是利用激发电子的原子内壳电子能级跃迁来获取样品表面的化学信息。因此,XPS和AES在激发源和测量原理上有所不同。 其次,XPS主要用于分析表面元素的化学状态、化学键和表面形貌等信息,对于表面分析和化学...
材料的表面分析技术主要有3种:俄歇电子能谱分析(AES)、X射线光电子能谱分析(XPS) 、原子力显微镜(AFM),今天主要对比学习前两种。 什么是电子能谱分析法? 电子能谱分析法是采用单色光源(如X射线、紫外光)或电子束去照射样品,使样品中电子受到激发而发射出来(这些自由电子带有样品表面信息),然后测量这些电子的产额...
XPS是一种表面分析方法,提供的是样品表面的元素含量与形态,而不是样品整体的成分。其信息深度约为3-5nm。如果利用离子作为剥离手段,利用XPS作为分析方法,则可以实现对样品的深度分析。固体样品中除氢、氦之外的所有元素都可以进行XPS分析。 俄歇电子能谱法(AES)的...
MultiPak是基于MATLAB开发针对XPS和AES的专业数据分析软件,采用先进的分析算法实现功能强大的数据分析,可以轻松的实现XPS谱图处理的一些常规功能,例如谱峰自动识别、化学态信息提取、定量分析结果一键输出、数据处理和谱图分峰拟合操作等等。 四、安装教程 注意事项 ...