比较极端的,对于某一化学成分完全未知的样品,可以通过XPS全谱分析来确定样品中含有哪些元素(H和He除外)。 实例说明五:J. Appl. Phys. 2014,116, 213911一文中,采用XPS全谱分析来对比AlN和AlN:Er,证实reactive magnetron sputtering处理后,Er成功掺杂到AlN薄膜中。 实例说明六:Appl. Catal. B: Environ. 2009, 5...
一、认识XPS 图1 X射线光电子能谱仪（XPS）X射线光电子能谱技术（XPS）是电子材料与元器件显微分析中的一种先进分析技术，而且是和俄歇电子能谱技术（AES）常常配合使用的分析技术。由于它可以比俄歇电子能谱技术更准确地测量原子的内层电子束缚能及其化学位移，所以它不但为化学研究提供分子结构和原子价态方面的信息...
KLL:左边代表起始空穴的电子层,中间代表填补起始空穴的电子所属的电子层,右边代表发射俄歇电子的电子层 C、XPS卫星线 用来照射样品的单色x射线并非单色,常规Al/Mg Ka1,2射线里混杂Ka3,4,5,6和Kb射线,它们分别是阳极材料原子中的L2和L3能级上的6个状态不同的电子和M能级的电子跃迁到K层上产生的荧光x射线效应。
这些射线统称XPS卫星线,所以导致XPS中,除Kα1,2所激发的主谱外,还有一些小的伴峰。 XPS谱图分析——多重分裂线 当原子的价壳层有未成对的自旋电子(例如d区过渡元素、f 区镧系元素、大多数气体原子以及少数分子NO、O2等)时,光致电离所形成的内层空位将...
近期,中国科学院福建物质结构所高鹏团队指出了一些文章中对XPS数据(例如,Pb4f光谱)进行了不准确或不适当的分析,这主要是由于以下原因:(1)对XPS机制的误解,(2)由于化学环境受干扰而引起的误解,(3)对钝化剂的性质缺乏认识,(4)错误的文献引用。作者基于对XPS中的化学位移的错误/不充分分析的示例,提出了正确理解XPS...
XPS的基本原理是根据光电效应:当X射线通过样品表面时,部分X射线会被样品上的原子吸收,从而使得原子的内层电子被激发出来。这些激发出的电子称为光电子。光电子的能量与原子的内层电子能级相关,不同元素的光电子能谱特征能量不同。通过测量光电子的能量分布,可以推断出样品表面元素的化学状态和化学成分。 XPS分析的步骤...
(c)X射线激发俄歇电子能谱(XAES)分析 在X射线电离后的激发态离子是不稳定的,可以通过多种途径产生退激发。 最常见的退激发过程就是产生俄歇电子跃迁的过程,因此X射线激发俄歇谱是光电子谱的必然伴峰。对于有些元素,XPS的化学位移非常小,不能用来研究化学状态的变化。这时XPS中的俄歇线随化学环境的不同会表现出...
XPS深度分析是通过使用Ar离子枪对样品表面进行溅射剥离,通过控制溅射强度和时间,将样品表面刻蚀到一定深度,然后进行取谱分析。这种方法在2022年发表在eScience上的一篇文章中得到了应用,文章提出了伪浓缩电解质的概念,这种电解质可以形成坚固的富含LiF的固态电解质界面(SEI)。首先...
Thermo Avantage是一款使用X光光电子能谱（XPS）进行材料表面分析的软件工具，由Thermo Fisher Scientific...
分析XPS(X射线光电子能谱)数据的步骤包括:数据预处理、峰拟合、元素分析、结合能校正、化学态分析。其中,数据预处理是关键。数据预处理包括背景扣除、噪声滤除和平滑处理,这些步骤确保了后续分析的准确性。背景扣除通常使用Shirley或Tougaard方法,以消除不必要的背景