一、数据预处理 1. 背景校正：在进行峰拟合之前，首先要对XPS谱图进行背景校正。背景校正的目的是消除样品本底信号、仪器本底信号以及荧光背景对谱图的影响。背景校正通常采用 Shirley方法或Lorentzian方法。2. 峰面积归一化：为了比较不同元素的信号强度，需要对XPS谱图进行峰面积归一化处理。归一化处理可以消除样品表面...
一、先简单把整个分析思路讲一下: XPS 数据分析基本过程定性分析 首先扫描全谱,由于荷电存在使结合能升高,因此要通过c结合能284.6eV对全谱进行荷电校正,然后对感兴趣的元素扫描高分辨谱,将所得结果与标准图谱对照,由结合能确定元素种类,由化学位移确定元素得化学状态,为了是结果准确在每一次扫描得结果分别进行荷电...
XPS数据分析及分峰处理(拟合)是获取可靠、准确结果的关键步骤。下面将详细介绍XPS数据分析及分峰处理(拟合)的实验步骤。 一、数据预处理 1. 背景校正:在进行峰拟合之前,首先要对XPS谱图进行背景校正。背景校正的目的是消除样品本底信号、仪器本底信号以及荧光背景对谱图的影响。背景校正通常采用 Shirley方法或...
XPS Simplified:XPS 数据分析讲座 网络讲座视频 X-射线光电子能谱仪器的进展,使得收集高质量的数据比过去几年更加容易。 现代XPS 仪器使材料科学的许多领域得以从表面分析中获益。生物材料、半导体、纳米技术和催化等应用均受益于 XPS 的创新。XPS 仪器的一个关键部件是它的数据...
XPS实验数据的分析主要包括:数据预处理、峰拟合、元素定量分析、化学态分析、数据可视化。数据预处理是XPS数据分析的第一步,包括基线校正、峰位校正和去噪。基线校正是为了去除背景信号,保证数据的准确性;峰位校正则是通过对比标准样品来调整峰位,使实验数据更加准确;去噪则是通过滤波器等方法去除数据中的噪声。在数据...
利用这款软件,用户可以快速、精确地完成XPS数据分析,深入挖掘并理解材料表面的化学性质和结构组成。此外,Thermo Avantage还支持多种国际标准数据库的引用,如NIST和XPS标准数据库等,可以广泛用于材料科学、表面科学、催化剂、腐蚀、电池、磁性材料、生物材料、聚合物科学、纳米技术、半导体和其他各类工程技术领域。 2.2 ...
一.解压安装包 1.鼠标右击弹出选择解压工具，我这里用的360解压缩。选择解压到指定文件夹。2.更改解压文件到指定文件夹，建议放在D盘。二.安装软件 右击在弹窗中选择以管理员身份运行 2.接下来7步弹窗点击Next 7 3.注意选择NO开头选项，然后点解finish。三.运行注册机 2.注册机操作步骤 我这里是安装包和注册机都...
XPS数据分析纵坐标:Intensity(cps)横坐标:bindingenergy(eV)除了氢氦元素,其他的元素都可以进行分析;先进行宽扫,确定样品有何种元素,再对该元素进行窄扫。该元素的不同键接方式都对应不同的峰,所以对元素窄扫的峰要进行分峰(分峰之前要进行调整基线)。如何分峰,不同的键接方式会对应不同的结合能。第一步:先...
XPS数据分析中必不可少的一步就是扣背景，上图中四幅图的扣背景都不对，基线在曲线上面了，后续对谱峰拟合、化学态定性定量都有影响。正确的方式是选择对应元素谱峰两侧背底处（较平缓信号相对最低的区域），选择合适的背景扣除方式，常见的四种本底扣除的方法：Linear，Shirley，Tougaard和Smart。建议同一组数据分析...