PHI5000 VersaProbeIII是PHI扫描XPS微探针设备最新产品应用了PHI业界领先的专利扫描X-射线技术和专利双束中和技术,成为更高水平的多功能分析仪器。 2.最新技术: 新的分析器输入透镜将灵敏度提高了两到三倍。 新的多通道探测器使得元素和化学态成像速度更快。
PHI5000 VersaProbeIII是PHI扫描XPS微探针设备最*新产品,应用了PHI业界领xian的ZL扫描X-射线技术和ZL双束中和技术,成为更高水平的多功能分析仪器。 最*新技术: ●新的分析器输入透镜,将灵敏度提高了两到三倍。 ●新的多通道探测器使得元素和化学态成像速度更快。
(UPS数据由PHI 5000 VersaProbe III搭载的UPS配件测得) 值得注意的是,UPS结合低能量反光电子能谱(LEIPS),可以获得完整的电子能带结构。在一项发表于《Nature》3的工作中,作者研究了通过共轭碳网络形成的具有拓扑结构的新型二维碳材料,在平面上拥有各向异性。为进一步研究该材料的电学性质,如图2所示,利用UPS和PHI LEI...
PHI 5000 Versaprobe III 多功能型扫描XPS微探针 产品属性本产品采购属于商业贸易行为 市场价格:电议 产品型号:PHI 5000 Versaprobe III 更新时间:2020/4/15 9:46:43 生产地:中国大陆 访问次数:659次 公司名称:高德英特(北京)科技有限公司 进入厂商展台 ...
PHI 5000 VersaprobeIII (VP-III) 设备展示如图2,能提供高性能的微区光谱,化学成像,二次电子成像,其小的X射线束光栅扫描直径约为10微米。X射线束的大小可以轻易的使用电脑控制在直径10微米到400微米设定,从而达到好的空间解释度与高的灵敏度。 PHI 5000 VersaprobeIII主要特征和功能:微聚焦的扫描X射线束可应对从...
例如,我们的用户利用PHI VersaProbe设备对嵌入磁性CoNi合金颗粒的掺氮碳纤维复合材料表面进行了表征,研究发现该材料表现出优异的电磁波吸收性能。该项工作发表于《Colloid and Interface Science》1上,引用频次相当高(一年内已被引用24次)。 为了深入理解材料/器件性能和结构之间的联系,利用XPS结合功能配件进行多技术表征...
图3 PHI 5000 Versaprobe Ⅱ设备 在ULVAC-PHI 最近期的 PHI 5000 Versaprobe 仪器上, Versaprobe 这个字, 本身就可拆成 Versa (多样的) 与 probe (束斑源)两个字, 其设计的原意也就如字面”多样束斑源”所表达, 仪器先是以X-射线光电子能谱为核心, 再预留了多个方位...
例如,我们的用户利用PHI VersaProbe设备对嵌入磁性CoNi合金颗粒的掺氮碳纤维复合材料表面进行了表征,研究发现该材料表现出优异的电磁波吸收性能。该项工作发表于《Colloid and Interface Science》1上,引用频次相当高(一年内已被引用24次)。 为了深入理解材料/器件性能和结构之间的联系,利用XPS结合功能配件进行多技术表征...
检测中心XPS:PHI 5000 VersaProbe II X射线光电子能谱技术(X-ray photoelectron spectroscopy,XPS)作为一种重要的表面分析技术,在诸多领域得到了广泛应用,主要包括:在木质材料、能源电池、表面改性、钢铁、航空航天、生物医药、纳米器件、半导体和地矿...
利用原位XPS(PHI Versaprobe III)研究电化学电镀过程中Li金属与LPSCl硫化物固体电解质界面的电流密度介导的界面相的演变。结果表明形成的负电荷表面有利于Li+离子的迁移,结果导致金属Li镀在SE表面上。此外,通过改变电子束电流可以调控入射到SE表面的电子通量,从而调节虚拟电极的电镀电流。如图3所示,展示了在三种不同电流...